[发明专利]一种场效应晶体管及其制备方法和晶体管阵列器件有效
申请号: | 201810259749.6 | 申请日: | 2018-03-27 |
公开(公告)号: | CN110310991B | 公开(公告)日: | 2021-05-07 |
发明(设计)人: | 何正宇;李伟 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336;H01L29/22;H01L29/417;H01L27/088 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: |
本发明实施例提供了一种场效应晶体管,包括绝缘衬底,设于绝缘衬底上的沟道材料层,间隔设于沟道材料层上的两个p型接触层,设置于两个p型接触层之间的沟道材料层上的栅介质层和栅极,分别设置于两个p型接触层上的源极和漏极,沟道材料层的材质为二维过渡金属硫族化合物,p型接触层的材质为MO |
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搜索关键词: | 一种 场效应 晶体管 及其 制备 方法 阵列 器件 | ||
【主权项】:
1.一种场效应晶体管,其特征在于,包括:绝缘衬底;沟道材料层,设置于所述绝缘衬底上,所述沟道材料层的材质为二维过渡金属硫族化合物;两个p型接触层,间隔设置于所述沟道材料层上,所述p型接触层的材质为过渡金属氧化物,所述过渡金属氧化物的通式为MOX,其中M为过渡金属,0<x<3,且所述p型接触层中的过渡金属种类与所述沟道材料层中的过渡金属种类相同;栅介质层,设置于所述两个p型接触层之间的沟道材料层上;源极和漏极,分别设置于所述两个p型接触层上;栅极,设置于所述栅介质层上。
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