[发明专利]一种基于传输延迟的高速光耦贮存可靠性检测方法

摘要

本发明提供一种基于传输延迟的高速光耦贮存可靠性检测方法，步骤如下：一：测量所有高速光耦器件的传输延迟时间，完成器件初筛；二：将器件样品按不同贮存温度分为四组；三：开展高温贮存试验，间隔一周对样品测试，记录传输延迟时间及失效情况；四：高温贮存试验结束，根据传输延迟时间的退化轨迹对试验数据进行预处理；五：计算各样品器件在高温贮存试验中的预期寿命；六：将各样品器件在高温贮存试验中的预期寿命换算至25℃贮存的器件伪寿命；七：计算全体样品的平均伪寿命，可得总批次器件的伪寿命，用于检测该批次器件的贮存可靠性。通过以上步骤，可以利用传输延迟时间检测高速光耦的贮存可靠性；对传输延迟时间进行测试，可得到高速光耦的高温贮存退化模型与各样品、总批次伪寿命情况。

主权项

1.一种基于传输延迟的高速光耦贮存可靠性检测方法，其特征在于：它包括以下步骤：步骤一：测量所有高速光耦器件的传输延迟时间，完成器件初筛；由高速光耦的产品手册中读取低电平输出传输延迟时间t_PHL与高电平输出传输延迟时间t_PLH的额定值与最大值，对所有器件进行传输延迟时间测试，记录t_PHL与t_PLH，令(t_PHL‑t_PLH)＝t_P，计算t_P；若t_PHL＞(t_PHL)_最大及t_PLH＞(t_PLH)_最大及t_P＞0.5[(t_PHL)_额定+(t_PLH)_额定]，则该器件已失效并剔除；步骤二：将器件样品按不同贮存温度分为四组；由高速光耦的产品手册中读取正常贮存温度范围TS₁‑TS₂和最高贮存温度TS_max，选取4个温度值T₁、T₂、T₃、T₄其中，T₂＝TS₂、T₄＝TS_max、T₃＝0.5(T₂+T₄)、T₁＝2T₂‑T₃；在已初筛的器件中取20只作为样本，分为4组，每组5只，分别对应四个温度值；步骤三：开展高温贮存试验，间隔一周对样品测试，记录传输延迟时间及失效情况；将各组器件在对应温度下进行高温贮存试验，间隔一周对样品进行传输延迟时间测试，记录t_PHL与t_PLH，令(t_PHL‑t_PLH)＝t_P，计算t_P；若t_PHL＞(t_PHL)_最大及t_PLH＞(t_PLH)_最大及t_P＞0.5[(t_PHL)_额定+(t_PLH)_额定]，则该器件失效，将其余未失效器件放回试验箱继续试验；步骤四：高温贮存试验结束，根据传输延迟时间的退化轨迹对试验数据进行预处理；重复步骤三，直到全部器件失效，及大部分器件出现明显退化即t_P数值增大，停止高温贮存试验；初步分析全部传输延迟时间数据和失效情况，剔除直接失效没有退化轨迹的试验组数据；步骤五：计算各样品器件在高温贮存试验中的预期寿命；将试验数据以指数函数拟合y即传输延时时间，即t_P与x试验时间，即y＝ax^b计算a、b，拟合每个样品器件贮存试验的试验时间与传输延迟时间之间随着光耦功能退化的变化关系；计算x(y＝0.5[(t_PHL)_额定+(t_PLH)_额定])，得出该样品器件在高温贮存试验中的预期寿命；步骤六：将各样品器件在高温贮存试验中的预期寿命换算至25℃贮存的器件伪寿命；根据Arrhenius模型，选取T₁与T₂组的试验数据，分别带入注意，T是该组的K氏温度，a、b是步骤五计算出该组的a、b的均值，K是玻尔兹曼常数，联立两个等式，约去InA，得出活化能E；将E与每组试验数据分别带入注意T₁是该组的试验温度对应的K氏温度，T₂是300K，K是玻尔兹曼常数，计算出Ac，称为加速因子；令M₁＝x(y＝(0.5[(t_PHL)_额定+(t_PLH)_额定])，计算M₂＝Ac*M₁，得出每个样品器件的伪寿命；步骤七：计算全体样品的平均伪寿命，能得总批次器件的伪寿命，用于评价该批次器件的贮存可靠性。