[发明专利]芯片自动化测试方法和装置在审
| 申请号： | 201810263222.0 | 申请日： | 2018-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN110320459A | 公开（公告）日： | 2019-10-11 |
| 发明（设计）人： | 洪涛 | 申请（专利权）人： | 北京君正集成电路股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京智为时代知识产权代理事务所(普通合伙) 11498 | 代理人： | 王加岭;杨静 |
| 地址： | 100094 北京市海淀区西*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片自动化测试方法和装置，其中，该方法包括：被测芯片在测试完成后，向控制器发送测试结束信号；所述控制器响应于所述测试结束信号，向机械手发送测试结束信号；所述机械手响应于所述测试结束信号，获取所述被测芯片的测试结果信息；所述机械手根据所述测试结果信息，将所述被测芯片放至分类装置中。通过上述方案解决了现有的芯片测试方式中所存在的测试效率低、测试结果准确度低的技术问题，达到了有效提高测试效率和测试准确度的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 测试结束信号 机械手 被测芯片 测试结果信息 方法和装置 自动化测试 测试效率 控制器 芯片 发送 测试准确度 方案解决 分类装置 技术效果 芯片测试 准确度 响应 测试 | ||
【主权项】：
1.一种芯片自动化测试方法，其特征在于，包括：被测芯片在测试完成后，向控制器发送测试结束信号；所述控制器响应于所述测试结束信号，向机械手发送测试结束信号；所述机械手响应于所述测试结束信号，获取所述被测芯片的测试结果信息；所述机械手根据所述测试结果信息，将所述被测芯片放至分类装置中。
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