[发明专利]光学相干断层成像系统有效

专利信息
申请号: 201810264524.X 申请日: 2018-03-28
公开(公告)号: CN108514404B 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 杨旻蔚;丁庆;沈耀春 申请(专利权)人: 深圳市太赫兹科技创新研究院;深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 潘艳丽
地址: 518102 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种光学相干断层成像系统。该系统包括光源、光纤耦合器、参考臂、样品臂、信号采集模块及信号处理模块。光源提供初始光;光纤耦合器将初始光分为参考光和样品光;参考臂将参考光的反射光传回至光纤耦合器;样品臂利用样品光检测待测样品,样品光在待测样品产生后向散射光传回至光纤耦合器;后向散射光与反射光在光纤耦合器内发生干涉形成干涉光;干涉光被光纤耦合器分为多路干涉光谱;信号采集模块分别采集各干涉光谱;信号处理模块根据各路干涉光谱的谱线信号生成所述待测样品的检测图像。上述系统,可以消除虚像干扰和光信号噪声干扰,从而使得上述系统的成像效果较好。
搜索关键词: 光学 相干 断层 成像 系统
【主权项】:
1.一种光学相干断层成像系统,其特征在于,包括:光源,提供初始光;光纤耦合器,所述光纤耦合器接收所述初始光,并将所述初始光分为多路输出光,所述多路输出光包括一路参考光和一路样品光;参考臂,用于接收所述参考光,并将所述参考光的反射光传回至所述光纤耦合器;样品臂,用于接收所述样品光;所述样品臂利用所述样品光检测待测样品,所述样品光在所述待测样品处发生散射,产生后向散射光,所述后向散射光传回至所述光纤耦合器;所述后向散射光与所述反射光在所述光纤耦合器内发生干涉,形成干涉光;所述干涉光被所述光纤耦合器分为多路干涉光谱,所述多路干涉光谱中的每一路分别输出;信号采集模块,分别采集各所述干涉光谱;信号处理模块,根据各路所述干涉光谱的谱线信号生成所述待测样品的检测图像,以消除所述待测样品的成像干扰。
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