[发明专利]存储器装置的测试方法有效
| 申请号： | 201810264563.X | 申请日： | 2018-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN108447522B | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人： | 张臻贤;武晨燕 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储器装置的测试方法，包括：根据块选择信号输出第一测试数据和第二测试数据；以及根据测试模式选择信号进入第一测试模式、第二测试模式和第三测试模式的任一者，其中，当进入第一测试模式时，将部分输入输出端口置于禁用状态，并将第一测试数据和第二测试数据先后从未禁用的输入输出端口输出；当进入第二测试模式时，将部分输入输出端口置于禁用状态，并将第一测试数据和第二测试数据进行逻辑处理后从未禁用的输入输出端口输出；当进入所述第三测试模式时，将全部输入输出端口置于未禁用状态，并将第一测试数据和第二测试数据从全部输入输出端口输出。本发明的技术方案可以选择不同的测试模式，并减少占用测试机台的输入输出端口。 | ||
| 搜索关键词： | 测试数据 输入输出端口 测试模式 禁用状态 输出 存储器装置 禁用 测试模式选择信号 块选择信号 测试 测试机台 逻辑处理 占用 | ||
【主权项】：
1.一种存储器装置的测试方法，其特征在于，包括：接收测试模式选择指令信号和块选择控制信号；根据所述测试模式选择指令信号生成测试模式选择信号；根据所述块选择控制信号和所述测试模式选择信号生成块选择信号；根据所述块选择信号输出第一测试数据和第二测试数据；根据所述测试模式选择信号进入第一测试模式、第二测试模式和第三测试模式的任一者，其中，当进入所述第一测试模式时，将部分输入输出端口置于禁用状态，并将所述第一测试数据和所述第二测试数据先后从未禁用的输入输出端口输出；当进入所述第二测试模式时，将部分输入输出端口置于禁用状态，并将所述第一测试数据和所述第二测试数据进行逻辑处理后从未禁用的输入输出端口输出；当进入所述第三测试模式时，将全部输入输出端口置于未禁用状态，并将所述第一测试数据和所述第二测试数据从所述全部输入输出端口输出。
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