[发明专利]一种ZnO/BS/Cu/ZnO多层结构透明导电薄膜的制备方法在审
申请号: | 201810264966.4 | 申请日: | 2018-03-28 |
公开(公告)号: | CN108517493A | 公开(公告)日: | 2018-09-11 |
发明(设计)人: | 于仕辉;赵乐;刘荣闯;李玲霞;孙永涛 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | C23C14/08 | 分类号: | C23C14/08;C23C14/18;C23C14/35;C23C14/54;C23C28/00 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 张宏祥 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明公开了一种ZnO/BS/Cu/ZnO多层结构透明导电薄膜的制备方法,先将ZnO、BS即BaSnO3和Cu靶材与清洁的衬底装入磁控溅射腔体内;再将系统的本底真空度抽至3.0×10‑3Pa以下,使用Ar和O2混合气体作为溅射气体溅射ZnO薄膜层,氧氩体积比为1~2:3~50,溅射总气压0.3~15Pa,溅射功率30~300W,沉积得到10~200nm厚ZnO薄膜层;再用纯氩气作为溅射气体溅射Cu薄膜层,沉积得到3~20nm厚Cu薄膜层;再使用纯氩气作为溅射气体溅射BS薄膜层,沉积得到10~30nm厚BS薄膜层;再使用Ar和O2混合气体作为溅射气体溅射ZnO薄膜层,沉积得到10~200nm厚ZnO薄膜层,制得ZnO/BS/Cu/ZnO多层结构透明导电薄膜。本发明在可见光范围内平均透过率≥80%,方块电阻≤10Ω·cm,性能优良,成本低廉,适合工业化生产。 | ||
搜索关键词: | 溅射 溅射气体 沉积 透明导电薄膜 多层结构 混合气体 薄膜层 纯氩气 再使用 制备 本底真空度 可见光 磁控溅射 方块电阻 溅射功率 体积比 透过率 总气压 靶材 衬底 氧氩 装入 体内 清洁 | ||
【主权项】:
1.一种ZnO/BS/Cu/ZnO多层结构透明导电薄膜的制备方法,具有如下步骤:(1)将ZnO靶材、BS即BaSnO3靶材和Cu靶材装入磁控溅射腔体内;先后用无水乙醇和去离子水超声清洗衬底30分钟,并用氮气吹干,放入磁控溅射腔体中;所述衬底为石英、玻璃、聚碳酸酯、聚对苯二甲酸或者聚萘二甲酸乙二醇酯的透明衬底;靶材与衬底的距离为40~90mm;(2)步骤(1)完成后,将磁控溅射系统的本底真空度抽至3.0×10‑3Pa以下,使用Ar和O2混合气体作为溅射气体溅射ZnO薄膜层,氧气与氩气体积比为1~2:3~50,溅射总气压0.3~15Pa,溅射功率为30~300W,进行沉积得到ZnO薄膜层,该薄膜层厚度为10~200nm;(3)步骤(2)完成后,将系统内抽至3.0×10‑3Pa以下,使用纯氩气作为溅射气体开始溅射Cu薄膜层,溅射总气压为0.3~15Pa,溅射功率20~200W,沉积得到Cu薄膜层,该薄膜层厚度为3~20nm;(4)步骤(3)完成后,将系统内抽至3.0×10‑3Pa以下,使用纯氩气作为溅射气体开始溅射BS薄膜层,溅射总气压为0.3~15Pa,溅射功率30~200W,沉积得到BS薄膜层,该薄膜层厚度为10~30nm;(5)重复步骤(2),将磁控溅射系统的本底真空度抽至3.0×10‑3Pa以下,使用Ar和O2混合气体作为溅射气体溅射ZnO薄膜层,氧气与氩气体积比为1~2:3~50,溅射总气压0.3~15Pa,溅射功率为30~300W,进行沉积得到ZnO薄膜层,该薄膜层厚度为10~200nm,制得ZnO/BS/Cu/ZnO多层结构透明导电薄膜。
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