[发明专利]一种基于多晶硅生长法的硅微杯形谐振陀螺加工方法有效
申请号: | 201810266220.7 | 申请日: | 2018-03-28 |
公开(公告)号: | CN108502843B | 公开(公告)日: | 2019-07-19 |
发明(设计)人: | 曹慧亮;刘俊;石云波;唐军;李杰;申冲;高晋阳;邵星灵;黄堃;张英杰 | 申请(专利权)人: | 中北大学 |
主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00 |
代理公司: | 太原新航路知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14112 | 代理人: | 王勇 |
地址: | 030051 山*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | 本发明涉及硅微杯形谐振陀螺的加工方法,具体是一种基于多晶硅生长法的硅微杯形谐振陀螺加工方法。本发明解决了深硅刻蚀法加工出的硅微杯形谐振陀螺深宽比小、表面光滑度低的问题。一种基于多晶硅生长法的硅微杯形谐振陀螺加工方法,该方法是采用如下步骤实现的:步骤a:在圆形硅基片的上表面生长第I氮化硅层;步骤b:在圆形硅基片的上表面刻蚀形成圆形凹腔;步骤c:将第I氮化硅层和第II氮化硅层去除;步骤d:在二氧化硅层的表面生长多晶硅层;步骤e:刻蚀形成第II圆环形窗口;步骤f:再次生长二氧化硅层;步骤g:将圆环形硅凸台腐蚀掉;步骤h:将二氧化硅层的暴露部分腐蚀掉。本发明适用于硅微杯形谐振陀螺的加工。 | ||
搜索关键词: | 谐振陀螺 微杯 多晶硅生长 二氧化硅层 氮化硅层 加工 刻蚀 圆形硅基片 上表面 圆环形 腐蚀 表面光滑度 表面生长 多晶硅层 圆形凹腔 生长 硅凸台 深宽比 去除 暴露 | ||
【主权项】:
1.一种基于多晶硅生长法的硅微杯形谐振陀螺加工方法,其特征在于:该方法是采用如下步骤实现的:步骤a:首先,采用LPCVD工艺在圆形硅基片(1)的上表面生长第I氮化硅层(2),并在第I氮化硅层(2)上刻蚀形成上下贯通的第I圆形窗口和第I圆环形窗口;第I圆形窗口的轴线和第I圆环形窗口的轴线均与圆形硅基片(1)的轴线重合;然后,采用LPCVD工艺在圆形硅基片(1)的下表面生长第II氮化硅层(3),并在第II氮化硅层(3)上刻蚀形成上下贯通的第II圆形窗口;第II圆形窗口的轴线与圆形硅基片(1)的轴线重合,且第II圆形窗口的直径小于第I圆形窗口的直径;步骤b:首先,通过第I圆形窗口在圆形硅基片(1)的上表面刻蚀形成圆形凹腔,通过第I圆环形窗口在圆形硅基片(1)的上表面刻蚀形成圆环形凹腔,由此使得圆形凹腔和圆环形凹腔之间形成圆环形硅凸台;然后,通过第II圆形窗口在圆形硅基片(1)的下表面和圆形凹腔的底面之间刻蚀形成圆形通孔;步骤c:首先,将第I氮化硅层(2)和第II氮化硅层(3)去除;然后,采用热氧法在圆形硅基片(1)的上表面和下表面、圆形凹腔的底面和侧面、圆环形凹腔的底面和侧面、圆环形硅凸台的顶面、圆形通孔的侧面生长二氧化硅层(4);步骤d:采用LPCVD工艺在二氧化硅层(4)的表面生长多晶硅层(5),并保证多晶硅层(5)将圆环形凹腔填满;步骤e:采用光刻工艺和刻蚀工艺在多晶硅层(5)上刻蚀形成上下贯通的第II圆环形窗口,并保证位于圆环形硅凸台的顶面的二氧化硅层(4)通过第II圆环形窗口暴露出来;步骤f:首先,采用热氧法在二氧化硅层(4)的暴露部分的表面和多晶硅层(5)的表面再次生长二氧化硅层(4),并保证二氧化硅层(4)将第II圆环形窗口填满;然后,在二氧化硅层(4)上刻蚀形成上下贯通的第III圆环形窗口,并保证圆环形硅凸台的顶面通过第III圆环形窗口暴露出来;步骤g:通过第III圆环形窗口将圆环形硅凸台腐蚀掉;步骤h:将二氧化硅层(4)的暴露部分腐蚀掉,由此制得硅微杯形谐振陀螺。
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