[发明专利]存储器装置及用于其的测试电路有效
| 申请号： | 201810266730.4 | 申请日： | 2018-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN108564982B | 公开（公告）日： | 2023-10-13 |
| 发明（设计）人： | 请求不公布姓名 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人： | 张臻贤;武晨燕 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明至少提供一种存储器装置，其中，地址锁存器可根据块选择使能信号输出块选择控制信号；测试模式选择单元可根据测试模式选择指令信号输出测试模式选择信号；块选择单元根据模式选择信号和块选择使能信号输出块选择信号；当根据块选择信号使能第一存储模块时，第一存储模块输出第一输入输出数据；当根据块选择信号使能第二存储模块时，第二存储模块输出第二输入输出数据；当存储器根据测试模式选择信号进入第一测试模式时，输出缓存器将部分输入输出端口置于禁用状态，并将第一输入输出数据和第二输入输出数据先后从未禁用的输入输出端口输出。本发明的存储器装置可以减少占用测试机台的输入输出端口。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 装置 用于 测试 电路 | ||
【主权项】：
1.一种存储器装置，其特征在于，包括：地址锁存器，具有地址信号输入端和块选择使能信号输入端，分别用于接收地址信号和块选择使能信号，所述地址锁存器输出地址控制信号和块选择控制信号；测试模式选择单元，具有测试模式选择指令输入端，用于接收测试模式选择指令信号，所述测试模式选择单元根据所述测试模式选择指令信号输出测试模式选择信号；块选择单元，连接于所述地址锁存器和所述测试模式选择单元，所述块选择单元用于根据所述块选择控制信号和所述测试模式选择信号输出块选择信号；第一存储模块，连接于所述块选择单元和所述地址锁存器，当根据所述块选择信号使能所述第一存储模块时，所述第一存储模块将所述地址控制信号译码并输出第一输入输出数据；第二存储模块，连接于所述块选择单元和所述地址锁存器，当根据所述块选择信号使能所述第二存储模块时，所述第二存储模块将所述地址控制信号译码并输出第二输入输出数据；以及输出缓存器，具有多个输入输出端口，所述输出缓存器连接于所述测试模式选择单元，并连接于所述第一存储模块和所述第二存储模块，当所述存储器装置根据所述测试模式选择信号进入第一测试模式时，所述输出缓存器将部分输入输出端口置于禁用状态，并将所述第一输入输出数据和所述第二输入输出数据先后从未禁用的输入输出端口输出。
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