[发明专利]相控阵天线的校准装置和系统在审

专利信息
申请号: 201810266775.1 申请日: 2018-03-28
公开(公告)号: CN108462540A 公开(公告)日: 2018-08-28
发明(设计)人: 桂杰;蔡隽 申请(专利权)人: 北京聚利科技股份有限公司
主分类号: H04B17/12 分类号: H04B17/12;H01Q3/26;H01Q21/00
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨泽;刘芳
地址: 102206 北京市昌*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种相控阵天线的校准装置和系统,相控阵天线包括多个辐射单元,其特征在于,该校准装置包括:信号处理系统和近场信号源,相控阵天线位于近场信号源的辐射范围内;信号处理系统分别与多个辐射单元、近场信号源连接;近场信号源用于在信号处理系统的控制下,发射与相控阵天线同频的近场测试连续波校准信号;信号处理系统用于根据各辐射单元接收到的近场测试连续波校准信号和预先存储的各辐射单元间的耦合相位差,对相控阵天线的各辐射单元进行校准。本发明利用近场信号源和预先存储的耦合相位差,对各辐射单元进行校准,解决了现有技术中因为安装环境无法采用远场信号源进行校准的问题。
搜索关键词: 相控阵天线 辐射单元 近场信号源 信号处理系统 校准 耦合相位差 近场测试 校准信号 校准装置 预先存储 连续波 安装环境 远场信号 同频 发射 辐射
【主权项】:
1.一种相控阵天线的校准装置,所述相控阵天线包括多个辐射单元,其特征在于,所述校准装置包括:信号处理系统和近场信号源,所述相控阵天线位于所述近场信号源的辐射范围内;所述信号处理系统分别与多个所述辐射单元、所述近场信号源连接;所述近场信号源用于在所述信号处理系统的控制下,发射与所述相控阵天线同频的近场测试连续波校准信号;所述信号处理系统用于根据各所述辐射单元接收到的近场测试连续波校准信号和预先存储的各所述辐射单元间的耦合相位差,对所述相控阵天线的各所述辐射单元进行校准。
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