[发明专利]竖直堆叠存储器件在审
申请号: | 201810268318.6 | 申请日: | 2018-03-28 |
公开(公告)号: | CN108695338A | 公开(公告)日: | 2018-10-23 |
发明(设计)人: | 李炅奂;裴敏敬;金柄宅;赵慧珍;金容锡;金泰勋;林濬熙 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/11582 | 分类号: | H01L27/11582 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 倪斌 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 竖直堆叠存储器件包括掺杂半导体衬底,所述掺杂半导体衬底具有施加了源极电力的公共源极以及与公共源极间隔开的低带隙层,并且所述低带隙层包括低带隙材料。堆叠栅极结构具有沿第一方向交替地且竖直地堆叠在衬底上的栅电极和绝缘间层图案。沟道结构沿第一方向穿透堆叠栅极结构。沟道结构与低带隙层接触。电荷存储结构介于堆叠栅极结构和沟道结构之间。电荷存储结构配置为选择性地存储电荷,并且将存储的电荷提供给存储单元、堆叠栅极结构和沟道结构。 | ||
搜索关键词: | 堆叠栅极结构 沟道结构 低带隙 衬底 电荷存储结构 掺杂半导体 存储器件 公共源极 竖直堆叠 低带隙材料 存储单元 存储电荷 电荷提供 绝缘间层 栅电极 堆叠 竖直 源极 穿透 存储 施加 图案 配置 | ||
【主权项】:
1.一种竖直堆叠存储器件,包括:掺杂半导体衬底,所述掺杂半导体衬底具有施加了源极电力的公共源极以及与所述公共源极间隔开的低带隙层,并且所述低带隙层包括低带隙材料;堆叠栅极结构,具有沿第一方向交替地且竖直地堆叠在所述衬底上的栅电极和绝缘间层图案;沟道结构,沿所述第一方向穿透所述堆叠栅极结构,所述沟道结构与所述低带隙层接触;以及电荷存储结构,介于所述堆叠栅极结构与所述沟道结构之间,并且选择性地存储电荷作为存储器数据,所述栅电极以及与所述栅电极相对应的所述沟道结构成及所述电荷存储结构配置成所述竖直堆叠存储器件的存储单元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810268318.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:可编程可抹除的非挥发性存储器
- 下一篇:三维半导体装置及其制造方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的