[发明专利]综合熵方法和密度聚类方法的窃电检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201810270822.X 申请日: 2018-03-29
公开(公告)号: CN108664990B 公开(公告)日: 2020-09-18
发明(设计)人: 陈启鑫;郑可迪;王毅;康重庆;夏清 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 张润
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种综合熵方法和密度聚类方法的窃电检测方法及装置,其中,方法包括:获取目标区域的待检测时间段内用户智能电表数据和总能耗数据,以得到用户用电曲线集合和非技术性损失数据;并根据用其通过最大信息系数计算方法得到用电量相关性强弱的衡量指标;得到每条曲线的形状异常指标;根据衡量指标和形状异常指标通过k‑均值聚类将每个用户的用电曲线划分为异常曲线和正常曲线,得到电量异常指标和形状异常指标;进而获取用户的电量异常排名和形状异常排名,以得到综合异常排名。该方法能够提高各种窃电模式下检测的准确率,实现了大数据下窃电行为的非监督式检测,增大了适用范围。
搜索关键词: 综合 方法 密度 检测 装置
【主权项】:
1.一种综合熵方法和密度聚类方法的窃电检测方法,其特征在于,包括以下步骤:获取目标区域的待检测时间段内用户智能电表数据和总能耗数据,以得到用户用电曲线集合和非技术性损失数据;根据所述用户用电曲线集合和非技术性损失数据通过最大信息系数计算方法得到每个用户的电曲线与非技术性损失的相关性,以得到用电量相关性强弱的衡量指标;通过基于快速搜索密度峰值的聚类方法获取标幺用电曲线集合中每条曲线的邻域密度和到更高密度区域的距离,以得到所述每条曲线的形状异常指标;根据所述衡量指标和所述形状异常指标通过k‑均值聚类将所述每个用户的用电曲线划分为异常曲线和正常曲线,并获取所有异常曲线的所述衡量指标和所述形状异常指标的均值,以作为电量异常指标和形状异常指标;以及根据所述电量异常指标和所述形状异常指标获取用户的电量异常排名和形状异常排名,并获取所述电量异常排名和所述形状异常排名计算算术平均值,以得到综合异常排名。
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