[发明专利]电阻型的空间碎片探测装置及探测方法有效
| 申请号： | 201810272902.9 | 申请日： | 2018-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN108459351B | 公开（公告）日： | 2019-10-08 |
| 发明（设计）人： | 沈自才;田东波;徐坤博;刘业楠;武强;张品亮 | 申请（专利权）人： | 北京卫星环境工程研究所 |
| 主分类号： | G01V3/02 | 分类号： | G01V3/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100094 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电阻型的空间碎片探测装置，包括探测壳体、第一膜组、第二膜组以及压电效应检测层，其中，第一膜组与第二膜组结构相同，且分别由两层聚合物薄膜叠置而成，每层聚合物薄膜都在聚合物薄膜上镀制有等间距的平行金属导电线且相邻膜层之间的金属导电线是相互垂直的，形成正方形的格子密排结构。本发明也公开了利用该探测装置进行空间碎片探测的方法。本发明结构简单、控制方便，能实现对空间碎片大小、速度、方向以及质量的探测。 | ||
| 搜索关键词： | 空间碎片 聚合物薄膜 探测装置 探测 电阻型 金属导电线 控制方便 平行金属 探测壳体 相邻膜层 压电效应 垂直的 导电线 检测层 组结构 格子 叠置 镀制 两层 密排 | ||
【主权项】：
1.电阻型的空间碎片探测装置，包括具有顶部开口的探测壳体、第一膜组、第二膜组以及压电效应检测层，其中，第一膜组设置在探测壳体的顶部开口位置处，第二膜组设置在探测壳体内的中间位置，压电效应检测层位于探测壳体内的底部，其中，第一膜组与第二膜组结构相同，且分别由两层聚合物薄膜叠置而成，每层聚合物薄膜都在聚合物薄膜上镀制有等间距的平行金属导电线且相邻膜层之间的金属导电线是相互垂直的，形成正方形的格子密排结构，其中，聚合物薄膜为有机聚合物薄膜，有机聚合物薄膜的厚度为25微米‑50微米。
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