[发明专利]半导体装置、非接触电子装置及周期检测方法有效
| 申请号： | 201810275030.1 | 申请日： | 2018-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN108694435B | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | 今任祐基 | 申请（专利权）人： | 拉碧斯半导体株式会社 |
| 主分类号： | G06K19/077 | 分类号： | G06K19/077 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨贝贝;臧建明 |
| 地址： | 日本神奈川县横*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种使用可有效率地削减消耗电流的新的方式的周期检测电路的半导体装置、非接触电子装置及周期检测方法。所述半导体装置包括：边缘检测部(12)，检测经由电波接收的数据信号(Data)的上升及下降的任一者的边缘；计数部(14)，计算邻接的边缘的区间中的对应于数据信号(Data)而将事先决定频率的参考时钟信号的频率变成1/N(N为2以上的整数)的N分频时钟信号(Div2_Clock)的个数；分数计数部(18、20、22、24、30)，计算对应于边缘与N分频时钟信号(Div2_Clock)的相位差所决定的N分频时钟信号的分数；以及第1相加部(28)，使由计数部(14)所得的计数值的N倍的值与分数相加，并作为数据信号(Data)的周期输出。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 接触 电子 周期 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体装置，其特征在于，包括：边缘检测部，检测经由电波接收的数据信号的上升及下降中的一个的边缘；计数部，计算邻接的所述边缘的区间中的对应于所述数据信号而将事先决定频率的参考时钟信号的频率变成1/N的N分频时钟信号的个数，其中N为2以上的整数；分数计数部，计算对应于所述边缘与所述N分频时钟信号的相位差所决定的所述N分频时钟信号的分数；以及第1相加部，使由所述计数部所得的计数值的N倍的值与所述分数相加，并作为所述数据信号的周期输出。
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