[发明专利]一种温度校准的装置在审
申请号: | 201810275623.8 | 申请日: | 2018-03-30 |
公开(公告)号: | CN108562378A | 公开(公告)日: | 2018-09-21 |
发明(设计)人: | 任玲玲;李硕;缪向水;童浩;王愿兵 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院;武汉嘉仪通科技有限公司 |
主分类号: | G01K15/00 | 分类号: | G01K15/00 |
代理公司: | 北京坦路来专利代理有限公司 11652 | 代理人: | 汪送来 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明实施例涉及一种温度校准的装置,包括:样品台(1),样品台(1)处于真空红外加热条件下;石英托管(5),连接并支撑样品台(1),处于真空红外加热条件下;K型热电偶(2),穿过所述石英托管(5),其测温端置于所述样品台(1)之内;块状介质(3),位于样品台(1)之内,块状介质(3)加工有孔;S型热电偶(4),穿过石英托管(5),其测温端插入所述块状介质(3)的孔之内,根据所述S型热电偶(4)测得的温度,对所述K型热电偶(2)所测量到的温度进行校准;其中,所述块状介质(3)的红外辐射吸收率不低于0.90,导热系数不低于60~70W/(m·K)。本发明实施例提供的温度校准的装置能够针对真空红外加热的特殊环境,对K偶进行温度校准。 | ||
搜索关键词: | 样品台 块状介质 温度校准 红外加热 石英 托管 测温端 吸收率 穿过 导热系数 红外辐射 校准 测量 支撑 加工 | ||
【主权项】:
1.一种温度校准的装置,其特征在于,包括:样品台(1),所述样品台(1)处于真空红外加热条件下;石英托管(5),连接并支撑样品台(1),处于真空红外加热条件下;K型热电偶(2),所述K型热电偶(2)穿过所述石英托管(5),其测温端置于所述样品台(1)之内;块状介质(3),位于所述样品台(1)之内,所述块状介质(3)加工有孔;以及S型热电偶(4),所述S型热电偶(4)穿过石英托管(5),其测温端插入所述块状介质(3)的孔之内,根据所述S型热电偶(4)测得的温度,对所述K型热电偶(2)所测量的温度进行校准;其中,所述块状介质(3)的红外辐射吸收率不低于0.90,导热系数不低于60~70W/(m·K)。
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