[发明专利]缺陷类型检测方法、装置、电子设备及介质在审
申请号: | 201810276600.9 | 申请日: | 2018-03-30 |
公开(公告)号: | CN108509958A | 公开(公告)日: | 2018-09-07 |
发明(设计)人: | 黄献德 | 申请(专利权)人: | 北京金山安全软件有限公司 |
主分类号: | G06K9/46 | 分类号: | G06K9/46;G06K9/62;G06N3/04;G06T7/00;G06T7/90 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 李欣;马敬 |
地址: | 100123 北京市朝*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明实施例提供了一种缺陷类型检测方法、装置、电子设备及介质,该方法包括:获得待检测目标的字节码,其中,上述待检测目标为:基于预设编程语言所编写的程序;基于所获得的待检测目标的字节码,获得待检测目标对应的待检测色彩图像;基于所获得的待检测色彩图像以及预设的缺陷类型检测模型,确定待检测目标是否存在缺陷,并在确定存在缺陷时,确定待检测目标对应的缺陷类型,其中,预设的缺陷类型检测模型:包含每一缺陷类型与图像特征的对应关系。以实现对待检测的程序是否存在缺陷的检测,进一步的,实现当待检测的程序存在缺陷时,对缺陷类型的检测。 | ||
搜索关键词: | 检测 缺陷类型 预设 电子设备 色彩图像 字节码 编程语言 图像特征 | ||
【主权项】:
1.一种缺陷类型检测方法,其特征在于,所述方法包括:获得待检测目标的字节码,其中,所述待检测目标为:基于预设编程语言所编写的程序;基于所获得的待检测目标的字节码,获得所述待检测目标对应的待检测色彩图像;基于所获得的待检测色彩图像以及预设的缺陷类型检测模型,确定所述待检测目标是否存在缺陷,并在确定存在缺陷时,确定所述待检测目标对应的缺陷类型,其中,所述预设的缺陷类型检测模型:包含每一缺陷类型与图像特征的对应关系。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京金山安全软件有限公司,未经北京金山安全软件有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810276600.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。