[发明专利]基于改进R矩阵的光谱反射率重建方法在审

专利信息
申请号: 201810281671.8 申请日: 2018-04-02
公开(公告)号: CN108680535A 公开(公告)日: 2018-10-19
发明(设计)人: 王慧琴;王可;殷颖;王展;赵丽娟;杨蕾 申请(专利权)人: 西安建筑科技大学
主分类号: G01N21/55 分类号: G01N21/55
代理公司: 西安恒泰知识产权代理事务所 61216 代理人: 黄小梧
地址: 710055*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供了一种基于改进R矩阵方法的光谱反射率重建方法,包括步骤1,采集多光谱图像作为待测样本,并将待测样本转换为光谱反射率曲线L;步骤2,通过改进R矩阵方法得到待测样本的光谱反射率;本发明使用Tikhonov正则化方法对求基本刺激光谱和同色异谱黑的过程中的病态情况进行限制,分别提高其求解精度,然后结合两部分计算结果得到更为精确的光谱重建结果。
搜索关键词: 待测样本 光谱反射率重建 光谱反射率曲线 多光谱图像 光谱反射率 改进 光谱重建 正则化 求解 光谱 采集 刺激 转换
【主权项】:
1.一种基于改进R矩阵的光谱反射率重建方法,其特征在于,步骤1,采集多光谱图像作为待测样本,并将待测样本转换为光谱反射率曲线L;步骤2,通过式(1)得到待测样本的光谱反射率其中,为待测样本的光谱反射率,t2为待测样本通过多光谱响应计算得到的三刺激值,r′2为训练样本的反射率,In为单位矩阵,λ为正则化参数;A为颜色匹配函数矩阵。
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