[发明专利]污点区域检测方法和装置、分析仪器和存储介质有效
| 申请号： | 201810288436.3 | 申请日： | 2018-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN108765424B | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | 张雅俊;徐宽;李奇武;张春茂 | 申请（专利权）人： | 迈克医疗电子有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/11 | 分类号： | G06T7/11;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 臧静 |
| 地址： | 611731 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开一种污点区域检测方法和装置、分析仪器和存储介质。该检测方法包括：对拍摄于同一样本的N张原图像进行二值分割，得到各张原图像的第一分割图像，N为大于或等于2的整数；根据所有N张原图像的第一分割图像中、相同位置的像素点的累加值，识别得到N张原图像中的固定污点区域，N张原图像具有相同数量的像素点。采用本发明实施例中的技术方案，能够适用于污点区域和有形成分区域之间的像素分布差异不明显的情况下的污点检测需求。 | ||
| 搜索关键词： | 污点 区域 检测 方法 装置 分析仪器 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种污点区域检测方法，其特征在于，包括：对拍摄于同一样本的N张原图像进行二值分割，得到各张原图像的第一分割图像，N为大于或等于2的整数；根据所有N张原图像的第一分割图像中、相同位置的像素点的累加值，识别得到所述N张原图像中的固定污点区域，所述N张原图像具有相同数量的像素点。
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