[发明专利]一种识别氢致开裂试样中夹杂物和裂纹的探伤方法和装置在审
| 申请号： | 201810289635.6 | 申请日： | 2018-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN110320270A | 公开（公告）日： | 2019-10-11 |
| 发明（设计）人： | 张灵;董斌;徐振亚;徐彩云 | 申请（专利权）人： | 宝山钢铁股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04 |
| 代理公司： | 上海三和万国知识产权代理事务所(普通合伙) 31230 | 代理人： | 刘立平;王建岗 |
| 地址： | 201900 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开一种识别氢致开裂试样中夹杂物和裂纹的探伤方法和装置：1、采用多晶片的超声波相控阵对试样进行全方位立体扫查，区分有无缺陷；2、利用探头本体上嵌设单晶片的超声波横波小探头装置对1中分辨出的有缺陷试样进行扫查，通过对夹杂物和裂纹两侧不同横波反射特征加以区分，初步识别缺陷试样中缺陷类型；缺陷为夹杂物时，试样近端二次横波反射不明显，远端反射明显；缺陷为裂纹时，横波二次波近端有反射，远端二次波反射明显；3、采用前述小探头装置对试样继续扫查，进一步验证2中对缺陷初步识别的准确度，前后移动横波探头，若发现动态移动时的横波包络线为“马鞍”形，则为母材夹杂；若横波包络线为尖锐的“山丘”形，则为裂纹。 | ||
| 搜索关键词： | 横波 夹杂物 扫查 反射 方法和装置 横波反射 探伤 包络线 小探头 次波 近端 氢致 远端 马鞍 超声波相控阵 准确度 动态移动 前后移动 缺陷类型 探头本体 超声波 单晶片 多晶片 探头 夹杂 母材 嵌设 分辨 验证 尖锐 发现 | ||
【主权项】：
1.一种识别氢致开裂试样中夹杂物和裂纹的探伤方法，其特征在于，包括如下步骤：1)、采用具有多晶片的超声波相控阵对试样进行全方位立体扫查，区分无缺陷试样和有缺陷试样；2)、利用探头本体上嵌设有单晶片的超声波横波小探头装置对步骤1)中分辨出的有缺陷试样进行扫查，通过对夹杂物和裂纹两侧不同的横波反射特征加以区分，以初步识别缺陷试样中的缺陷是夹杂物还是裂纹；该超声波横波小探头装置的探头晶片尺寸为5‑8mm；其中：所述缺陷为夹杂物时，试样近端一次横波反射明显，远端反射不明显，近端二次横波反射不明显，远端横波二次波反射明显；所述缺陷为裂纹时，试样近端一次横波有反射，远端反射明显，横波二次波近端有反射，远端二次波反射明显；3)、采用所述超声波横波小探头装置对试样继续扫查，以进一步验证步骤2)对缺陷初步识别的准确度，其中：若前后移动横波探头，发现动态移动时的横波包络线为一“马鞍”形时，判定为母材夹杂；若前后移动横波探头，发现动态移动时的横波包络线为一尖锐的“山丘”形时，判定为试样中的裂纹。
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