[发明专利]一种阵列基板、阵列基板母板及显示装置有效
| 申请号： | 201810291440.5 | 申请日： | 2018-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN108490654B | 公开（公告）日： | 2021-01-22 |
| 发明（设计）人： | 王家敏;于洋 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;福州京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 莎日娜 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种阵列基板、阵列基板母板及显示装置，其中阵列基板母板包括由切割线分成的第一测试区域和第二测试区域，第二测试区域内设置有多个测试单元，测试单元包括测试短路棒以及连接在测试短路棒上的多条信号线，测试短路棒用于向信号线输入检测信号；各测试单元的测试短路棒之间通过串接线依次串接，串接线跨越所述切割线；通过相同的测试短路棒进行切割工艺之前的Array测试和切割工艺之后的Cell测试，因此，测试短路棒本身的不良在Array测试阶段可以被检测出来，避免流入下一道工序，避免在Cell测试阶段出现因测试短路棒自身不良导致的点灯画面异常，进而提高Cell测试阶段的产能和良品率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 阵列 母板 显示装置 | ||
【主权项】：
1.一种阵列基板母板，其特征在于，包括由切割线分成的第一测试区域和第二测试区域，所述第二测试区域内设置有多个测试单元，所述测试单元包括测试短路棒以及连接在所述测试短路棒上的多条信号线，所述测试短路棒用于向所述信号线输入检测信号；各所述测试单元的所述测试短路棒之间通过串接线依次串接，所述串接线跨越所述切割线，分布在所述第一测试区域和所述第二测试区域。
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