[发明专利]一种双A/D跨尺度光栅位移测量装置及方法有效
| 申请号： | 201810299536.6 | 申请日： | 2018-04-04 |
| 公开（公告）号： | CN108444393B | 公开（公告）日： | 2020-04-03 |
| 发明（设计）人： | 徐从裕;胡宗久;杨雅茹;高雨婷;徐俊 | 申请（专利权）人： | 合肥工业大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 230009 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种双A/D跨尺度光栅位移测量装置及方法。通过此测量装置及方法，可以任意组合两种不同转换位数与采样速度的A/D芯片，以满足不同需求的跨尺度光栅测量要求。光栅通过细分实现高分辨率测量，光栅细分数与A/D转换位数有关。为解决双A/D 采样与细分的跟踪问题，设计了基于双A/D采样的二路细分算法，一路为判定算法，判定算法是以高速A/D采样值作为细分采样值，另外一路为测量算法，测量算法中的细分采样值是动态分配的，当判定算法的细分值和细分增量值满足跟踪条件时，测量算法中的采样值为慢速A/D采样值，否则为高速A/D采样值。该发明可用于高精度、快速测量领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 尺度 光栅 位移 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种双A/D跨尺度光栅位移测量装置，其特征在于：包括有光栅尺、光栅信号调理电路、低转换位数的高速A/D芯片和高转换位数的慢速A/D芯片、连续采样控制电路和微处理器，在光栅尺设有光栅头，利用光栅头和光栅尺的相对运动时产生光栅信号，低转换位数的高速A/D芯片和高转换位数的慢速A/D芯片通过连续采样控制电路并行采样光栅信号调理电路输出的光栅信号，在微处理器中对连续采样控制电路采集的光栅信号进行细分和衔接实现跨尺度光栅位移的测量。
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