[发明专利]双测距空间三维坐标测量方法在审
| 申请号： | 201810304586.9 | 申请日： | 2018-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN108519052A | 公开（公告）日： | 2018-09-11 |
| 发明（设计）人： | 郭昆林 | 申请（专利权）人： | 郭昆林 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/03 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 650033 云南省昆明市五华*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 通过水平角度盘测定水平夹角β，在过水平角度盘中心的铅锤线上测量两个空间距离m、n，计算被测量点C的平面坐标x、y和高程h。本方法无需垂直度盘，简化仪器结构，降低仪器生产成本，提高测量效率，是一种简单实用的空间三维坐标测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 空间三维坐标 水平角度盘 测量 测距 测量效率 垂直度盘 简化仪器 空间距离 平面坐标 水平夹角 仪器生产 测量点 铅锤线 高程 | ||
【主权项】：
1.将水平角度盘中心轴安置在过地面已知点B的铅锤线上，通过测定B点到已知点A和B点到待测量点C的水平夹角β，在过水平角度盘中心轴的铅锤线上不同高度的位置分别测量其到待测量点C的两个空间距离m、n，两次测距的位置可以都在水平角度盘的上侧，也可以都在水平角度盘的下侧，还可以在水平角度盘的上侧和下侧各测一个距离，通过测量的水平夹角β、空间距离m和n及地面上原有的已知点B和已知点A的坐标，计算被测量点C的平面坐标x、y和高程h的方法。
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