[发明专利]一种HJT电池钝化工艺在审
申请号: | 201810306082.0 | 申请日: | 2018-04-08 |
公开(公告)号: | CN108538960A | 公开(公告)日: | 2018-09-14 |
发明(设计)人: | 张娟;李高非;王继磊;易治凯;白炎辉;黄金;鲍少娟;高勇;崔宁;王广为 | 申请(专利权)人: | 晋能光伏技术有限责任公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0216 |
代理公司: | 镇江京科专利商标代理有限公司 32107 | 代理人: | 夏哲华 |
地址: | 030600 山西省晋*** | 国省代码: | 山西;14 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明公开了一种HJT电池钝化工艺。包括以下步骤:A、先将N型单晶硅片进行制绒清洗,制绒清洗后绒面大小为3‑10um,反射率为11%‑13%;B、采用PECVD工艺利用纯硅烷作为前驱物进行i |
||
搜索关键词: | 膜层 钝化工艺 制绒清洗 前驱物 硅烷 等离子体 电池 硅片表面损伤 丝网印刷技术 缺陷态密度 表面轰击 电源设备 钝化膜层 钝化效果 工艺利用 金属电极 膜层沉积 双层钝化 纯硅烷 导电膜 反射率 非晶硅 界面处 金属化 乙硼烷 成膜 带隙 后绒 两层 稀释 沉积 制备 掺杂 优化 | ||
【主权项】:
1.一种HJT电池钝化工艺,包括以下步骤:A、先将N型单晶硅片(1)进行制绒清洗,制绒清洗后绒面大小为3‑10um,反射率为11%‑13%;B、采用PECVD工艺利用纯硅烷作为前驱物进行i
膜层(2)沉积,沉积速率控制在3‑5埃/s,i
膜层的厚度为3‑5nm;C、利用H2稀释硅烷进行i
膜层成膜,沉积速率控制在1‑3埃/s,i
膜层(3)的厚度为2‑4nm,然后对两层膜层进行双层钝化;D、用硅烷作为前驱物,乙硼烷掺杂用于制备p‑a‑Si:H膜层(4),沉积速率控制在3‑5埃/s,其厚度为7‑10nm;E、利用PVD/RPD工艺在p‑a‑Si:H膜层(4)上沉积TCO导电膜(5),导电膜的厚度为100‑120nm,方阻40‑50Ω/口;F、利用丝网印刷技术进行金属化,形成金属电极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晋能光伏技术有限责任公司,未经晋能光伏技术有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810306082.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种新型的化合物薄膜电池设备
- 下一篇:一种钝化接触的IBC电池的制备方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的