[发明专利]星载多频段一维综合孔径一维实孔径的微波辐射探测方法在审
| 申请号： | 201810307441.4 | 申请日： | 2018-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN108535725A | 公开（公告）日： | 2018-09-14 |
| 发明（设计）人： | 赵锋;姚崇斌;徐红新;陈雄 | 申请（专利权）人： | 上海航天电子通讯设备研究所 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 200082 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种星载多频段一维综合孔径一维实孔径的微波辐射探测方法，本发明采用本微波辐射探测技术，通过抛物柱面天线反射面在顺轨方向实现实孔径辐射探测，在交轨方向实现综合孔径探测，通过阵列波束合成实现交轨电扫描，通过卫星运动实现顺轨扫描，两者组合避免了大口径天线的机械扫描，解决了动不平衡量补偿困难的问题，延长了仪器使用寿命。相对于传统二维实孔径辐射探测技术而言避免了大口径天线的机械扫描，相对于传统二维综合孔径辐射探测技术而言大幅减少了阵列单元数目，实现了大口径天线辐射探测技术最优折中。 | ||
| 搜索关键词： | 大口径天线 孔径辐射 探测技术 微波辐射 综合孔径 探测 机械扫描 多频段 顺轨 星载 抛物柱面天线 动不平衡量 二维综合 辐射探测 卫星运动 仪器使用 阵列波束 阵列单元 电扫描 反射面 二维 扫描 合成 | ||
【主权项】：
1.一种星载多频段一维综合孔径一维实孔径的微波辐射探测方法，其特征在于，包括：采用交轨探测和顺轨探测的复合探测的方式进行目标探测，其中，阵列波束合成实现交轨电扫描，通过卫星运动实现顺轨扫描，目标场景辐射信号经抛物柱面天线反射面汇聚后由3排线性馈源阵列同时接收，每个探测的频段的阵列布局满足UV可视度平面空间采样定律，所述接收的信号再经过对应处理器的在轨复运算处理，得到可视度函数值，最后所述可视度函数值由图像重构的计算机处理后，获得场景辐射亮温分布。
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