[发明专利]一种在软基材表面制备低应力DLC薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 201810314406.5 申请日: 2018-04-09
公开(公告)号: CN108517502B 公开(公告)日: 2020-01-31
发明(设计)人: 周意;吕游;尚伦霖;张广安;鲁志斌;刘建北;张志永;丰建鑫 申请(专利权)人: 中国科学技术大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/06;C23C14/02
代理公司: 11021 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李坤
地址: 230026 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 本公开提供了一种在软基材表面制备低应力DLC薄膜的方法,包括:对基材进行预处理;采用物理气相沉积设备对高纯石墨靶材表面进行溅射清洗;固定基材并对基材表面进行等离子体轰击和刻蚀;在基材表面沉积低应力DLC薄膜;以及在真空环境下冷却基材表面沉积的低应力DLC薄膜。
搜索关键词: 低应力 表面制备 基材表面 软基材 物理气相沉积设备 预处理 等离子体轰击 高纯石墨靶 表面沉积 固定基材 溅射清洗 冷却基材 真空环境 基材 刻蚀 沉积
【主权项】:
1.一种在软基材表面制备低应力DLC薄膜的方法,包括:/n步骤1:对基材进行预处理;/n步骤2:采用物理气相沉积设备对高纯石墨靶材表面进行溅射清洗;/n步骤3:固定基材并对基材表面进行等离子体轰击和刻蚀;/n步骤4:在基材表面沉积低应力DLC薄膜;以及/n步骤5:在真空环境下冷却基材表面沉积的低应力DLC薄膜;/n所述步骤3包括:/n将基材通过装夹固定在转架上,将转架安装到真空腔室内部的旋转轴上,调整基材位置,使其高度位于高纯石墨靶材的中间位置,高纯石墨靶材的靶面与基材之间的距离为10厘米-20厘米;高纯石墨靶材设置在真空腔室侧壁上;/n打开抽真空系统的机械泵对真空腔室预抽真空,待真空腔室的真空度为10
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