[发明专利]基于分波阵面干涉仪的光学相干层析成像装置有效
| 申请号： | 201810314712.9 | 申请日： | 2018-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN108572161B | 公开（公告）日： | 2020-12-08 |
| 发明（设计）人： | 王益民;丁红燕;朱雨富;张林娜;魏言春;肖虎 | 申请（专利权）人： | 淮阴工学院 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 淮安市科文知识产权事务所 32223 | 代理人： | 李杰 |
| 地址： | 223005 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于分波阵面干涉仪的光学相干层析成像装置，包括光源、光学干涉仪、光束扫描单元、控制和数据采集单元以及探测光谱仪，所述光学干涉仪包括具有a端、b端、c端的光学环形器，以及第一准直透镜、全反射分束镜、参考臂；所述光源发出的光进入光学环形器的a端，从b端输出，穿过第一准直透镜形成准直光束，所述全反射分束镜的一部分镜面位于准直光束中，将准直光束分为两路分别进入参考臂和光束扫描单元；分别从参考臂和光束扫描单元返回的参考光、样品光经第一准直透镜形成光干涉信号进入光学环形器的b端，从c端输出，所述控制和数据采集单元利用探测光谱仪采集光干涉信号的光谱得到图像，所述控制和数据采集单元还向光束扫描单元发送驱动信号。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 分波阵面 干涉仪 光学 相干 层析 成像 装置 | ||
【主权项】：
1.基于分波阵面干涉仪的光学相干层析成像装置，包括光源（1）、光学干涉仪（2）、光束扫描单元（3）、控制和数据采集单元（4）以及探测光谱仪（5），其特征在于：所述光学干涉仪（2）包括具有a端、b端、c端的光学环形器（7），以及第一准直透镜（8）、全反射分束镜（9）、参考臂；所述光源（1）发出的光进入光学环形器（7）的a端，从b端输出，穿过第一准直透镜（8）形成准直光束，所述全反射分束镜（9）的一部分镜面位于准直光束中，将准直光束分为两路分别进入参考臂和光束扫描单元（3）；分别从参考臂和光束扫描单元（3）返回的参考光、样品光经第一准直透镜（8）形成光干涉信号进入光学环形器（7）的b端，从c端输出，所述控制和数据采集单元（4）利用探测光谱仪（5）采集光干涉信号的光谱得到图像，所述控制和数据采集单元（4）还向光束扫描单元（3）发送驱动信号。
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