[发明专利]一种标定具备自检功能的激光发射系统光轴的装置及方法在审
| 申请号： | 201810315036.7 | 申请日： | 2018-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN108731650A | 公开（公告）日： | 2018-11-02 |
| 发明（设计）人： | 吴金才;王天洪;何志平;黄庚华;舒嵘 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01C15/00 | 分类号： | G01C15/00 |
| 代理公司： | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人： | 李秀兰 |
| 地址： | 200083 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种标定具备自检功能的激光发射系统光轴的装置及方法。该发明特别适用于具备自检功能的激光发射系统,也适用于各种主被动结合的光电系统同轴检测等领域。该发明基于分光镜(Beam Splitter)的分光功能，将光束分析仪与光纤端面等距离的固定到分光镜(Beam Splitter)两侧，从而组合成一个固定收发一体的焦面模块，利用角锥棱镜的自准功能将光纤端面所对应的光轴转移至光束分析仪的某一个像素点；通过光束分析仪所对应的像素点将激光发射系统的主光轴转移至光纤端面所对应的光轴，最后通过光纤反向发射激光来测试及标定激光发射系统光轴与自检光光轴之间的关系。该发明适用于具备自检功能的激光发射系统的高精度光轴测量与标定，定标方法简单、价格低廉。 | ||
| 搜索关键词： | 激光发射系统 光轴 自检功能 标定 光纤端面 光束分析仪 分光镜 高精度光轴 主被动结合 分光功能 光电系统 光束分析 角锥棱镜 收发一体 同轴检测 像素点 主光轴 定标 焦面 像素 自检 激光 测量 光纤 测试 发射 | ||
【主权项】：
1.一种标定具备自检功能的激光发射系统光轴的装置，由光轴转移平行光管(1)、光轴测试平行光管(2)、收发同轴装置(3)、角锥棱镜(4)、光轴检测CCD(5)、具备自检功能的激光发射系统(6)组成，其特征在于：所述的光轴转移平行光管(1)与收发同轴装置(3)需配合使用，收发同轴装置(3)处于光轴转移平行光管(1)焦面附近，同时收发同轴装置(3)中光束分析仪(3‑2)的光敏面处于光轴转移平行光管(1)焦面处；收发同轴装置(3)通过分光镜(3‑1)的分光功能，将用于接收信号的光束分析仪(3‑2)光敏面与光纤激光器(3‑3)的光纤端面等距离固定于其两侧，最终形成收发同轴装置(3)；利用角锥棱镜(4)的自准功能将光纤激光器(3‑3)的光纤端面所对应的光轴转移至光束分析仪(3‑2)的收发同轴像素点；调节具备自检功能的激光发射系统(6)，使得主发射激光经过光轴转移平行光管(1)会聚于光束分析仪(3‑2)的光斑与收发同轴像素点重合；然后利用光纤激光器(3‑3)反向发射激光，该反向发射的激光经过光轴转移平行光管(1)准直后进入光轴测试平行光管(2)，并会聚于光轴测试平行光管(2)焦面处的光轴检测CCD(5)上，同时具备自检功能的激光发射系统(6)的自检光经自检棱镜(6‑3)反射后也进入光轴测试平行光管(2)，并成像于光轴测试平行光管(2)焦面处的光轴检测CCD(5)上，两成像点之间的偏差即为发射光与自检光之间的偏差。
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