[发明专利]基于剪切二维极线平面图的光场角度超分辨率方法及装置有效

专利信息
申请号: 201810315188.7 申请日: 2018-04-10
公开(公告)号: CN108615221B 公开(公告)日: 2020-12-01
发明(设计)人: 刘烨斌;吴高昌;戴琼海 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G06T3/40 分类号: G06T3/40;G02B27/58
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 张润
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于剪切二维极线平面图的光场角度超分辨率方法及装置,其中,方法包括:根据低角度分辨率光场提取多个二维极线平面图;获取多个二维极线平面图的每个二维极线平面图的空间低频信息;得到多个剪切操作后的低频极线平面图;达到目标角度分辨率;通过卷积神经网络对上采样后的低频极线平面图重建出角度信息;得到角度超分辨率后的高空间角度分辨率的极线平面图;得到多个在不同视差下的高角度空间分辨率极线平面图;得到高空间角度分辨率极线平面图;输出高角度分辨率光场。该方法对一定稀疏角度分辨率的大视差光场均能达到优良的角度超分辨率效果,具有很强的鲁棒性,且对极线平面图所对应的视差图中的噪声也具有很强的鲁棒性。
搜索关键词: 基于 剪切 二维 平面图 角度 分辨率 方法 装置
【主权项】:
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