[发明专利]检查系统、检查装置和检查方法

摘要

提供了检查系统、检查装置和检查方法。确定待检查装置的算术运算功能是否正常。待检查的MCU(13)从检查侧的电源IC(12)获取要用于算术问题的常数。MCU(13)顺序地选择多个算术问题，并根据选择的算术问题使用所获取的常数来执行算术运算。电源IC(12)的监测电路(23)从MCU(13)接收算术问题的算术运算的结果。监测电路(23)将接收的算术运算结果与在监测电路(23)侧计算的算术问题的算术运算结果进行比较。监测电路(23)基于比较结果确定MCU(13)的算术运算功能是否正常工作。

主权项

1.一种检查系统，包括能够相互通信的待检查装置和检查装置，其中，所述待检查装置包括：算术问题选择模块，被配置为顺序地选择多个算术问题；常数获取模块，被配置为从所述检查装置获取要在所述算术问题的算术运算中使用的常数；运算模块，被配置为根据由所述算术问题选择模块选择的算术问题使用所述常数来执行所述算术运算；以及运算结果发送模块，被配置为将所述运算模块的算术运算的结果发送到所述检查装置；以及所述检查装置包括：常数发送模块，被配置为将所述常数发送到所述待检查装置；运算电路，被配置为执行所述算术问题的算术运算；确定模块，被配置为从所述待检查装置接收所述算术运算的结果，将所接收的算术运算的结果与通过使所述运算电路基于由所述常数发送模块发送的常数执行所述算术运算而获取的结果进行比较，以及基于比较结果确定所述待检查装置的算术运算功能是否正常工作。