[发明专利]金属栅格的形成方法、图像传感器及其形成方法在审

专利信息
申请号: 201810318820.3 申请日: 2018-04-11
公开(公告)号: CN108666331A 公开(公告)日: 2018-10-16
发明(设计)人: 龙海凤;李天慧;黄晓橹;罗加聘 申请(专利权)人: 德淮半导体有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 上海领洋专利代理事务所(普通合伙) 31292 代理人: 吴靖靓
地址: 223300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明技术方案公开了一种金属栅格的形成方法、图像传感器及其形成方法,其中金属栅格的形成方法,包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底内形成分立的光电二极管及深沟槽隔离结构,所述深沟槽隔离结构位于所述光电二极管之间;在所述半导体衬底上形成无定型碳层;在所述无定型碳层形成露出所述半导体衬底的凹槽,所述凹槽定义出金属栅格的位置和尺寸;在所述无定型碳层表面、凹槽侧壁及底部形成绝缘层;在所述绝缘层表面形成金属层,所述金属层填满所述凹槽;平坦化所述金属层至露出所述无定型碳层上的所述绝缘层;去除所述无定型碳层及其上的所述绝缘层,露出分立排列的金属栅格。所形成的金属栅格的关键尺寸在足够小时,不会发生坍塌情况。
搜索关键词: 金属栅格 无定型碳层 绝缘层 衬底 半导体 深沟槽隔离结构 光电二极管 图像传感器 金属层 分立 金属层填满 绝缘层表面 凹槽侧壁 凹槽定义 平坦化 去除 坍塌
【主权项】:
1.一种金属栅格的形成方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底内形成分立的光电二极管及深沟槽隔离结构,所述深沟槽隔离结构位于所述光电二极管之间;在所述半导体衬底上形成无定型碳层;在所述无定型碳层形成露出所述半导体衬底的凹槽,所述凹槽定义出金属栅格的位置和尺寸;在所述无定型碳层表面、凹槽侧壁及底部形成绝缘层;在所述绝缘层表面形成金属层,所述金属层填满所述凹槽;平坦化所述金属层至露出所述无定型碳层上的所述绝缘层;去除所述无定型碳层及其上的所述绝缘层,露出分立排列的金属栅格。
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