[发明专利]一种四工位光模块测试系统在审
申请号: | 201810322741.X | 申请日: | 2018-04-11 |
公开(公告)号: | CN108494482A | 公开(公告)日: | 2018-09-04 |
发明(设计)人: | 许德玉 | 申请(专利权)人: | 武汉普赛斯电子技术有限公司 |
主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079 |
代理公司: | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人: | 冯子玲 |
地址: | 430000 湖北省武汉市东湖新技*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及一种四工位光模块测试系统,包括上位机和作为下位机的用于测试四工位光模块测试的DUT测试板,所述上位机为具有获取及处理所述DUT测试板测试信息的装置,所述下位机还包括用于对误码率进行测试分析的机箱、光分路器、光功率计、光谱仪和示波器;本发明提供了益效果一套适用于光模块产品生产组装阶段的参数调整和成品发货阶段的指标性能的测试,通过系统完成对光模块产品的光发射模块和光接收模块以及产品工作时功耗三个部分指标参数的测试,实现全自动的测试不需要人员过多的操作、人机界面软件将测试数据进行直观的显示同时将测试数据保存至数据库文件,从而判断光模块是否达到出厂的标准。 | ||
搜索关键词: | 光模块测试 四工位 测试 光模块 上位机 下位机 测试数据保存 产品生产组装 人机界面软件 光发射模块 光接收模块 数据库文件 光谱仪 参数调整 测试分析 测试数据 测试信息 光分路器 光功率计 模块产品 指标参数 示波器 误码率 发货 功耗 机箱 出厂 直观 | ||
【主权项】:
1.一种四工位光模块测试系统,包括上位机和作为下位机的用于测试四工位光模块测试的DUT测试板,其特征在于:所述上位机为具有获取及处理所述DUT测试板测试信息的装置,所述下位机还包括用于对误码率进行测试分析的机箱、光分路器、光功率计、光谱仪和示波器;所述机箱连接DUT测试板,所述DUT测试板和光分路器连接,所述光分路器分别和光功率计、光谱仪、示波器连接,实现模块发射参数的测试系统;所述上位机通过通讯接口分别和第一机箱、第二机箱连接,所述上位机通过接口总线分别和光分路器、光功率计、光谱仪、示波器连接,DUT测试板和机箱连接,实现模块接收参数以及控制反馈的测试系统;其中,所述机箱对应连接DUT测试板上第一工位、第二工位、第三工位和第四工位的光模块。
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