[发明专利]系统级芯片测评装置和方法在审
| 申请号： | 201810326534.1 | 申请日： | 2018-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN108594106A | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | 王小强;罗军;唐锐;李军求;孙宇 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 黄晓庆 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种系统级芯片测评装置和方法。包括ATE测试板、SoC系统验证板和控制器，控制器控制ATE测试板获取待测系统级芯片的参数级数据，控制SoC系统验证板获取待测系统级芯片的应用级数据，根据待测系统级芯片的参数级数据和应用级数据，得到待测系统芯片的测评结果。不仅可以实现对待测系统级芯片的参数级测试，也可以实现对待测系统级芯片的应用级测试，能够更加全面系统地对SoC芯片进行性能测试，从而得到更全面的测评结果，这样可降低SoC芯片测试对自动化测试设备的依赖度，也可大幅降低由于自动化测试设备硬件升级带来的巨大成本。 | ||
| 搜索关键词： | 系统级芯片 待测系统 芯片 自动化测试设备 应用级数据 测评装置 验证板 测试 测评 控制器控制 性能测试 硬件升级 控制器 依赖度 应用级 | ||
【主权项】：
1.一种系统级芯片测评装置，其特征在于，包括ATE测试板、SoC系统验证板和控制器，所述ATE测试板和所述SoC系统验证板分别与所述控制器连接；所述控制器控制所述ATE测试板获取待测系统级芯片的参数级数据，控制所述SoC系统验证板获取所述待测系统级芯片的应用级数据，并根据所述待测系统级芯片的参数级数据和应用级数据，得到所述待测系统芯片的测评结果。
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