[发明专利]一种用于检测微纳光纤直径的传感器及其制作方法有效
| 申请号： | 201810326884.8 | 申请日： | 2018-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN108426533B | 公开（公告）日： | 2020-11-24 |
| 发明（设计）人： | 刘彬;梁红勤;刘娟;万生鹏;何兴道;李国琴 | 申请（专利权）人： | 南昌航空大学 |
| 主分类号： | G01B11/08 | 分类号： | G01B11/08 |
| 代理公司： | 南昌市平凡知识产权代理事务所 36122 | 代理人： | 张文杰 |
| 地址： | 330063 江*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明提供的一种用于检测微纳光纤直径的传感器，包括宽带光源、第一连接光纤、D型光纤、第二连接光纤和光谱分析仪；所述宽带光源、所述第一连接光纤、所述D型光纤、所述第二连接光纤和所述光谱分析仪依次连接，所述微纳光纤与所述D型光纤接触；所述D型光纤是通过将光纤沿轴向切除包层形成截面为D型抛磨面的光纤结构，所述微纳光纤与所述D型抛磨面的平坦区域接触，所述微纳光纤通过将单模或多模光纤拉锥制备得到。本发明提供的传感器，采用D型光纤作为外部耦合器件来激发WGM，D型结构比较稳定，更容易引出倏逝波，将光耦合到待测微纳光纤中，形成WGM共振，当微纳光纤直径变化时，引起WGM共振的FSR变化，从而实现对微纳光纤直径的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 光纤 直径 传感器 及其 制作方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测微纳光纤直径的传感器，其特征在于：所述传感器包括宽带光源、第一连接光纤、D型光纤、第二连接光纤和光谱分析仪；所述宽带光源、所述第一连接光纤、所述D型光纤、所述第二连接光纤和所述光谱分析仪依次连接，所述微纳光纤与所述D型光纤接触。
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