[发明专利]一种用于阶梯轴裂纹检测的超声阵列检测方法及系统装置在审
| 申请号： | 201810336892.0 | 申请日： | 2018-04-13 |
| 公开（公告）号： | CN109060954A | 公开（公告）日： | 2018-12-21 |
| 发明（设计）人： | 肖涵;陈云 | 申请（专利权）人： | 武汉科技大学 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04;G01N29/44;G01B17/00 |
| 代理公司： | 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 | 代理人： | 陈娟 |
| 地址： | 430000 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于阶梯轴裂纹检测的超声阵列检测方法及系统装置，其中所述方法包括：布置于阶梯轴端面的N个传感器阵元相继激发，发射信号；所述N个传感器阵元接收反馈的N2个回波信号；检测系统获取所述回波信号提取裂纹散射信号；所述检测系统获取所述裂纹散射信号提取散射系数，生成散射系数矩阵。本发明公布一种基于超声散射系数矩阵对阶梯轴裂纹检测的方法，利用裂纹处超声散射的特性，在阶梯轴轴端面布置传感器阵列阵元，建立轴裂纹的散射系数矩阵，并根据散射矩阵提出衡量裂纹深度的参数指标。提出的最大散射系数、偏离度、散射宽度都可以作为衡量裂纹深度的参数指标，且利于实现检测的自动化。 | ||
| 搜索关键词： | 阶梯轴 散射系数 矩阵 裂纹检测 参数指标 超声阵列 传感器阵 回波信号 检测系统 散射信号 系统装置 散射 超声 检测 传感器阵列 发射信号 散射矩阵 最大散射 偏离度 轴端面 衡量 阵元 自动化 反馈 激发 | ||
【主权项】：
1.一种用于阶梯轴裂纹检测的超声阵列检测方法，其特征在于，所述方法包括：布置于阶梯轴端面的N个传感器阵元相继激发，发射信号，所述N≥1；所述N个传感器阵元接收反馈的N2个回波信号；检测系统获取所述回波信号提取裂纹散射信号；所述检测系统获取所述裂纹散射信号提取散射系数，生成散射系数矩阵。
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