[发明专利]基于故障诊断的测试性建模及分析方法在审
申请号: | 201810338006.8 | 申请日: | 2018-04-16 |
公开(公告)号: | CN110162811A | 公开(公告)日: | 2019-08-23 |
发明(设计)人: | 孙萍;魏清新;王坤明;程晓光 | 申请(专利权)人: | 北京机电工程研究所 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100074 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及测试性技术领域,公开了一种基于故障诊断的测试性建模及分析方法。其中该方法包括:获取故障模式信息;基于所述故障模式信息、建模对象相关信息进行故障模式与相应测试信息之间的关联性分析,以生成测试性建模所需的规范化数据;将所生成的规范化数据分别与对应的模型结构进行绑定,构造得到测试性模型;基于所述测试性模型生成D矩阵;以及基于所述D矩阵进行测试性分析以及故障诊断。由此,可以提供一种易于应用、规范且可操作性强的测试性分析方法实现故障的精确诊断和定位。 | ||
搜索关键词: | 故障模式 故障诊断 测试性 建模 矩阵 测试性分析 测试性模型 规范化数据 关联性分析 诊断和定位 测试信息 建模对象 模型结构 生成测试 相关信息 绑定 分析 应用 | ||
【主权项】:
1.一种基于故障诊断的测试性建模及分析方法,其特征在于,该方法包括:获取故障模式信息;基于所述故障模式信息、建模对象相关信息进行故障模式与相应测试信息之间的关联性分析,以生成测试性建模所需的规范化数据;将所生成的规范化数据分别与对应的模型结构进行绑定,构造得到测试性模型;基于所述测试性模型生成D矩阵;以及基于所述D矩阵进行测试性分析以及故障诊断。
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