[发明专利]一种多光轴自动校准系统及方法在审
| 申请号： | 201810338318.9 | 申请日： | 2018-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN108759862A | 公开（公告）日： | 2018-11-06 |
| 发明（设计）人： | 范哲源;刘西站;韩飞;何飞 | 申请（专利权）人： | 西安微普光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 北京睿驰通程知识产权代理事务所(普通合伙) 11604 | 代理人： | 张文平 |
| 地址： | 710119 陕西省西安市*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明实施例涉及一种多光轴自动校准系统，包括：近红外激光测距系统(1)，其安装于多维度调整系统(11)上；红外系统(2)，通过转台(3)与所述近红外激光测距系统连接；成像系统(4)，与所述红外系统固定连接；第二光学校准系统(5)，用于校准所述近红外激光测距系统(1)与红外系统(2)的同轴性，包括：第一激光反射镜(51)、第二激光反射镜(52)、耦合反射镜(53)、离轴抛物镜(54)以及靶标(55)，所述第一激光反射镜(51)、第二激光反射镜(52)、耦合反射镜(53)、离轴抛物镜(54)均镀有相应波长的全反射膜；计算机系统(6)，对所述靶标图像进行分析，并根据分析结果自动调整多维度调整系统的角度。 | ||
| 搜索关键词： | 激光反射镜 近红外激光 测距系统 红外系统 自动校准系统 离轴抛物镜 耦合反射镜 调整系统 多维度 光轴 靶标图像 成像系统 光学校准 全反射膜 同轴性 校准 转台 计算机系统 波长 靶标 分析 | ||
【主权项】：
1.一种多光轴自动校准系统，其特征在于，包括：近红外激光测距系统(1)，其安装于多维度调整系统(11)上；红外系统(2)，通过转台(3)与所述近红外激光测距系统(1)连接，用于确定目标位置；成像系统(4)，与所述红外系统(2)固定连接，且已通过第一光学校准系统实现所述成像系统(4)与所述红外系统(2)的同轴性；第二光学校准系统(5)，用于校准所述近红外激光测距系统(1)与红外系统(2)的同轴性，包括：第一激光反射镜(51)、第二激光反射镜(52)、耦合反射镜(53)、离轴抛物镜(54)以及靶标(55)，所述第一激光反射镜(51)、第二激光反射镜(52)、耦合反射镜(53)、离轴抛物镜(54)均镀有相应波长的全反射膜；其中，近红外激光测距系统(1)发射近红外激光束，该光束经过第一激光反射镜(51)、第二激光反射镜(52)、耦合反射镜(53)、离轴抛物镜(54)反射后照亮靶标(55)；所述照亮的靶标(55)发射的光束经过所述离轴抛物镜(54)、耦合反射镜(53)后进入所述成像系统(4)，形成靶标图像；计算机系统(6)，所述计算机系统(6)与所述成像系统(4)电连接，并对所述靶标图像进行分析，并根据分析结果自动调整多维度调整系统(11)的角度。
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