[发明专利]探测器层析仪及量子层析方法有效

专利信息
申请号: 201810340914.0 申请日: 2018-04-17
公开(公告)号: CN108844642B 公开(公告)日: 2020-06-02
发明(设计)人: 马雄峰;曾培 申请(专利权)人: 图灵人工智能研究院(南京)有限公司
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00;H01L21/66
代理公司: 上海巅石知识产权代理事务所(普通合伙) 31309 代理人: 王再朝;高磊
地址: 210046 江苏省南京*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请提供一种探测器层析设备及方法,所述方法包括以下步骤:产生一束相干光;提供一强度调制模块以将所述相干光调节到单光子量级的强度传输给一光子探测器;令所述强度调制模块出射不同强度的单光子量级的相干光传输给所述光子探测器;接收并记录所述光子探测器对每一强度值的相干光的响应频率,并通过数据分析获得不同测量算子的元素的可能取值范围。
搜索关键词: 探测器 层析仪 量子 层析 方法
【主权项】:
1.一种探测器层析设备,用于对光子探测器进行层析,其特征在于,包括:相干光源,用于产生一束相干光;强度调制模块,与所述光子探测器相耦合,用于将所述相干光调节到单光子量级的强度,并在受控时传输不同强度的单光子量级的相干光给所述光子探测器;以及数据分析模块,连接所述光子探测器及所述强度调制模块,用于接收并记录所述光子探测器对每一强度值的相干光的响应频率,并通过数据分析获得不同测量算子的元素的可能取值范围。
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