[发明专利]一种低品位杂铜样品的制备方法

摘要

本发明公开了一种低品位杂铜样品的制备方法，根据杂铜样品的预告品位以及入样量，计算杂铜和纯铜标样的配样比例，按该比例分别称取杂铜样品与纯铜样品的配样量，混合后组成综合样品，在分别计算所述综合样品中铜金属量和纯铜金属量后，再计算所述杂铜样品中铜品位。本发明提供的方法解决了铜冶炼加工企业在验收低品位杂铜类原料时因其品位太低、杂质高等因素导致无法制备成合格样品的难题。既提高了杂铜样品制备过程的符合性，也保证了样品的均匀性和代表性，避免了供需双方因品位差异产生的贸易纠纷，保障了双方的经济利益。

主权项

1.一种低品位杂铜样品的制备方法，其特征在于，具体步骤如下：1）将杂铜样品混匀缩分；2）根据杂铜样品的预告品位以及入样量，计算杂铜和纯铜标样的配样比例，按该比例分别称取杂铜样品与纯铜样品的配样量，混合后组成综合样品，使该综合样品的铜品位提升至70%‑85%；3）将所述综合样品装入已预热的坩埚中，加入硼砂覆盖在所述综合样品的表面，将坩埚放入中频炉内，调整中频电压，预热10～15分钟，逐渐升温到1150℃～1250℃，熔融过程中，用干燥的木棍进行缓慢搅拌，使所述综合样品融化成铜水；4）关闭中频炉电源，取出坩埚并将铜水倒入已预热烘干的模具中，待固化后，将铜锭倒出；5）趁热将坩埚壁上粘附的铜渣铲出收集，清除铜锭表面渣后，分别将铜锭和铜渣进行称重；6）将所述铜锭钻取样屑后，进行研磨—筛分—装袋—分析，获得铜锭的铜品位；7）将所述铜渣研磨—筛分—称重—装袋—分析，获得铜渣的铜品位；8）进行杂铜样品中铜品位的计算，在分别计算所述综合样品中铜金属量和纯铜金属量后，再计算所述杂铜样品中铜品位，其计算方法如下：综合样品中铜金属量=铜锭铜品位×铜锭重量+铜渣铜品位×铜渣重量；纯铜金属量=纯铜配入量×纯铜品位；杂铜样品中铜品位=（综合样品中铜金属量－纯铜金属量）÷杂铜样品配入量。