[发明专利]一种对固体样品进行定量分析的方法在审
| 申请号： | 201810350563.1 | 申请日： | 2018-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN110389123A | 公开（公告）日： | 2019-10-29 |
| 发明（设计）人： | 段忆翔;牛广辉 | 申请（专利权）人： | 成都西奇仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73;G01N1/28 |
| 代理公司： | 成都高远知识产权代理事务所(普通合伙) 51222 | 代理人： | 谢一平;曾克 |
| 地址： | 611900 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开一种对固体样品进行定量分析的方法，包括：将具有预定温度的微波等离子体直接作用于待测样品表面，获取待测样品的微波等离子体光谱；根据预先建立的支持向量机回归模型对所述待测样品的微波等离子体光谱进行预测，获取所述待测样品中目标元素的定量分析结果。本发明提供的技术方案，能够快速、准确地对固体样品进行定量分析。 | ||
| 搜索关键词： | 待测样品 微波等离子体 定量分析 固体样品 光谱 定量分析结果 支持向量机 回归模型 目标元素 预先建立 预测 | ||
【主权项】：
1.一种对固体样品进行定量分析的方法，其特征在于，包括：将具有预定温度的微波等离子体直接作用于待测样品表面，获取第一微波等离子体光谱；根据预先建立的支持向量机回归模型对所述第一微波等离子体光谱进行预测，获取所述待测样品中目标元素的定量分析结果。
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