[发明专利]一种发光防伪元件及其检测方法和检测系统有效
| 申请号： | 201810350741.0 | 申请日： | 2018-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN108956549B | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 麻宝成;张晓明;唐士立;邬立勇;陈国栋;辛小温;周树荣;朱强 | 申请（专利权）人： | 中国印钞造币总公司;中钞印制技术研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63;C09D11/50 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 刘会景;黄健 |
| 地址： | 100044 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种发光防伪元件及其检测方法和检测系统。该发光防伪元件具有如下的发光特性：发光防伪元件受到第一激发光照射，并在去除第一激发光后，进一步受到第二激发光照射时，产生肉眼可见的第二发射光；发光防伪元件事先未受到第一激发光照射，直接受到第二激发光照射时，产生肉眼不可见的第三发射光；其中，第二激发光的波长大于第一激发光的波长，第二激发光的波长大于第二发射光的波长。由于本发明所提供的发光防伪元件具有上述独特的发光效果，因此具有检测方便和隐蔽性高的特点。本发明还提供了针对上述发光防伪元件的检测方法及检测系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发光 防伪 元件 及其 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种发光防伪元件，其特征在于，具有如下的发光特性：所述发光防伪元件受到第一激发光照射，并在去除第一激发光后，进一步受到第二激发光照射时，产生肉眼可见的第二发射光；所述发光防伪元件事先未受到第一激发光照射，直接受到第二激发光照射时，产生肉眼不可见的第三发射光；其中，所述第一激发光的波长小于第二激发光的波长，所述第二激发光的波长大于第二发射光的波长。
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