[发明专利]一种综合孔径辐射计增广协方差矩阵的构造方法及系统在审

专利信息
申请号: 201810352217.7 申请日: 2018-04-19
公开(公告)号: CN108519600A 公开(公告)日: 2018-09-11
发明(设计)人: 胡飞;彭晓辉;贺锋 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 李智;曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种综合孔径辐射计增广协方差矩阵的构造方法及系统,应用于对地遥感领域,所述方法包括如下步骤:基于MIRAS稀疏天线阵列A构造虚拟全填充天线阵列B;根据MIRAS稀疏天线阵列A的可见度函数,填充虚拟全填充天线阵列B的可见度函数;根据虚拟全填充天线阵列B的可见度函数构造增广协方差矩阵;基于增广协方差矩阵,利用其中已知UV采样点对未知UV采样点的值进行估计,实现增广协方差矩阵的完备化。根据本发明所构建的完备化增广协方差矩阵,可减小RFI定位点的拖尾效应,有利于弱源检测。
搜索关键词: 协方差矩阵 天线阵列 填充 可见度函数 综合孔径辐射计 虚拟 采样点 稀疏 对地遥感 拖尾效应 定位点 构建 减小 检测 应用
【主权项】:
1.一种综合孔径辐射计增广协方差矩阵的构造方法,其特征在于,包括:(1)根据稀疏天线阵列的UV采样分布来构造虚拟填充天线阵列,其中,所述稀疏天线阵列的UV采样分布是指由所述稀疏天线阵列中所有的UV采样点形成的一个序列,所述稀疏天线阵列中的UV采样点是指将所述稀疏天线阵列中的天线i与天线j的坐标相减并对波长作归一化处理所得到值;(2)根据所述稀疏天线阵列的可见度函数对所述虚拟填充天线阵列进行可见度赋值,获取所述虚拟填充天线阵列中各天线对的UV采样点对应的可见度;(3)根据所述虚拟填充天线阵列中的各天线对的UV采样点对应的可见度构造增广协方差矩阵;(4)利用所述增广协方差矩阵中的已知UV采样点对未知UV采样点的值进行估计,实现增广协方差矩阵的完备化,最终获得完备化的增广协方差矩阵。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810352217.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top