[发明专利]一种综合孔径辐射计增广协方差矩阵的构造方法及系统在审
申请号: | 201810352217.7 | 申请日: | 2018-04-19 |
公开(公告)号: | CN108519600A | 公开(公告)日: | 2018-09-11 |
发明(设计)人: | 胡飞;彭晓辉;贺锋 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 李智;曹葆青 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种综合孔径辐射计增广协方差矩阵的构造方法及系统,应用于对地遥感领域,所述方法包括如下步骤:基于MIRAS稀疏天线阵列A构造虚拟全填充天线阵列B;根据MIRAS稀疏天线阵列A的可见度函数,填充虚拟全填充天线阵列B的可见度函数;根据虚拟全填充天线阵列B的可见度函数构造增广协方差矩阵;基于增广协方差矩阵,利用其中已知UV采样点对未知UV采样点的值进行估计,实现增广协方差矩阵的完备化。根据本发明所构建的完备化增广协方差矩阵,可减小RFI定位点的拖尾效应,有利于弱源检测。 | ||
搜索关键词: | 协方差矩阵 天线阵列 填充 可见度函数 综合孔径辐射计 虚拟 采样点 稀疏 对地遥感 拖尾效应 定位点 构建 减小 检测 应用 | ||
【主权项】:
1.一种综合孔径辐射计增广协方差矩阵的构造方法,其特征在于,包括:(1)根据稀疏天线阵列的UV采样分布来构造虚拟填充天线阵列,其中,所述稀疏天线阵列的UV采样分布是指由所述稀疏天线阵列中所有的UV采样点形成的一个序列,所述稀疏天线阵列中的UV采样点是指将所述稀疏天线阵列中的天线i与天线j的坐标相减并对波长作归一化处理所得到值;(2)根据所述稀疏天线阵列的可见度函数对所述虚拟填充天线阵列进行可见度赋值,获取所述虚拟填充天线阵列中各天线对的UV采样点对应的可见度;(3)根据所述虚拟填充天线阵列中的各天线对的UV采样点对应的可见度构造增广协方差矩阵;(4)利用所述增广协方差矩阵中的已知UV采样点对未知UV采样点的值进行估计,实现增广协方差矩阵的完备化,最终获得完备化的增广协方差矩阵。
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