[发明专利]一种瞬态变形的测量方法和装置有效
| 申请号： | 201810353161.7 | 申请日： | 2018-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN108645349B | 公开（公告）日： | 2020-07-24 |
| 发明（设计）人： | 吴思进;马国峰 | 申请（专利权）人： | 吴思进 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 许志勇 |
| 地址： | 100101 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种瞬态变形的测量方法和装置，包括：激光器出射激光照射被测物，其中，被测物呈现周期性瞬态变形；散斑干涉测头接收经被测物反射得到的反射光，并根据反射光形成散斑干涉；散斑干涉测头输出按照预设时序采集得到的散斑干涉图集合，其中，散斑干涉图集合是通过对瞬态变形周期内时间轴上的每一个位置进行采样得到的；图像处理模块根据散斑干涉图集合，确定被测物在瞬态变形周期内出现瞬态变形的变形位置和/或形变量。本申请通过对瞬态变形周期内时间轴上的每一个位置进行散斑干涉图采样来测量周期性瞬态变形，能够有效提高测量速度，降低测量时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 瞬态 变形 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种瞬态变形的测量方法，其特征在于，包括：激光器出射激光照射被测物，其中，所述被测物呈现周期性瞬态变形；散斑干涉测头接收经所述被测物反射得到的反射光，并根据所述反射光形成散斑干涉；所述散斑干涉测头输出按照预设时序采集得到的散斑干涉图集合，其中，所述散斑干涉图集合是通过对瞬态变形周期内时间轴上的每一个位置进行采样得到的；图像处理模块根据所述散斑干涉图集合，确定所述被测物在瞬态变形周期内出现瞬态变形的变形位置和/或形变量。
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