[发明专利]一种AZO透明栅极薄膜晶体管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201810354086.6 申请日: 2018-04-19
公开(公告)号: CN108649074A 公开(公告)日: 2018-10-12
发明(设计)人: 姚日晖;章红科;宁洪龙;李晓庆;张啸尘;邓宇熹;邓培淼;周尚雄;袁炜健;彭俊彪 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/423;H01L21/336
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 罗啸秋
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明属于显示器件领域,公开了一种AZO透明栅极薄膜晶体管及其制备方法。将基底清洗,烘干预处理后通过脉冲激光沉积制备AZO栅极;在AZO栅极上使用射频磁控溅射沉积制备Al2O3栅极绝缘层;在栅极绝缘层上使用脉冲直流磁控溅射沉积IGZO半导体层;使用射频磁控溅射在半导体层上沉积Al2O3半导体修饰层;在300~350℃的温度下,对器件进行热退火处理;使用直流溅射沉积Al源漏电极,得到AZO透明栅极薄膜晶体管。本发明通过激光脉冲沉积制备AZO栅极,在降低薄膜电阻率的同时且兼有优良的透明度,极大地提高了TFT的器件性能。
搜索关键词: 制备 薄膜晶体管 透明栅极 射频磁控溅射 栅极绝缘层 半导体层 沉积 磁控溅射沉积 激光脉冲沉积 脉冲激光沉积 直流溅射沉积 薄膜电阻率 烘干预处理 基底清洗 脉冲直流 器件性能 显示器件 漏电极 热退火 修饰层 半导体 透明度
【主权项】:
1.一种AZO透明栅极薄膜晶体管的制备方法,其特征在于包括如下制备步骤:(1)将基底清洗,烘干预处理;(2)在预处理后的基底上通过脉冲激光沉积制备AZO栅极;(3)在AZO栅极上使用射频磁控溅射沉积制备Al2O3栅极绝缘层;(4)在栅极绝缘层上使用脉冲直流磁控溅射沉积IGZO半导体层;(5)使用射频磁控溅射在半导体层上沉积Al2O3半导体修饰层;(6)在300~350℃的温度下,对器件进行热退火处理;(7)使用直流溅射沉积Al源漏电极,得到AZO透明栅极薄膜晶体管。
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