[发明专利]一种基于多线结构光的深孔内表面图像几何畸变校正方法有效

专利信息
申请号: 201810354983.7 申请日: 2018-04-19
公开(公告)号: CN108596847B 公开(公告)日: 2022-05-03
发明(设计)人: 丁超;唐力伟;曹立军;邵新杰;黄少罗;汪伟;于贵波;苏续军;邓士杰;徐桐 申请(专利权)人: 中国人民解放军陆军工程大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 北京华仲龙腾专利代理事务所(普通合伙) 11548 代理人: 李静
地址: 050003 *** 国省代码: 河北;13
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种基于多线结构光的深孔内表面图像几何畸变校正方法,包括以下步骤:步骤一,建立深孔内表面模型和与之对应的深孔内表面展开模型;步骤二,获取针对深孔内表面模型的曲面采集图像和针对深孔内表面展开模型的平面采集图像;步骤三,设计高斯结构光点阵图案;步骤四,对同一行或列的高斯点继续插值;步骤五,依托高斯结构光点阵图案扫描深孔内表面获取的曲面采集图像和平面采集图像中对应高斯结构光点之间的图像位置以及形变关系,对图像畸变进行矫正;本发明的基于多线结构光的深孔内表面图像几何畸变校正方法,可用于常见的深孔类零部件内表面的采集图像的几何畸变的校正,其计算简单、精度高、采用非接触式扫描且适用范围广。
搜索关键词: 一种 基于 结构 深孔内 表面 图像 几何 畸变 校正 方法
【主权项】:
1.一种基于多线结构光的深孔内表面图像几何畸变校正方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤一,建立深孔内表面模型和与之对应的深孔内表面展开模型;步骤二,获取针对深孔内表面模型的曲面采集图像和针对深孔内表面展开模型的平面采集图像;步骤三,设计高斯结构光点阵图案;步骤四,对同一行或列的高斯点继续插值;步骤五,依托高斯结构光点阵图案扫描深孔内表面获取的曲面采集图像和平面采集图像中对应高斯结构光点之间的图像位置以及形变关系,对图像畸变进行矫正。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军陆军工程大学,未经中国人民解放军陆军工程大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810354983.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top