[发明专利]一种基于多线结构光的深孔内表面图像几何畸变校正方法有效
申请号: | 201810354983.7 | 申请日: | 2018-04-19 |
公开(公告)号: | CN108596847B | 公开(公告)日: | 2022-05-03 |
发明(设计)人: | 丁超;唐力伟;曹立军;邵新杰;黄少罗;汪伟;于贵波;苏续军;邓士杰;徐桐 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军陆军工程大学 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
代理公司: | 北京华仲龙腾专利代理事务所(普通合伙) 11548 | 代理人: | 李静 |
地址: | 050003 *** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于多线结构光的深孔内表面图像几何畸变校正方法,包括以下步骤:步骤一,建立深孔内表面模型和与之对应的深孔内表面展开模型;步骤二,获取针对深孔内表面模型的曲面采集图像和针对深孔内表面展开模型的平面采集图像;步骤三,设计高斯结构光点阵图案;步骤四,对同一行或列的高斯点继续插值;步骤五,依托高斯结构光点阵图案扫描深孔内表面获取的曲面采集图像和平面采集图像中对应高斯结构光点之间的图像位置以及形变关系,对图像畸变进行矫正;本发明的基于多线结构光的深孔内表面图像几何畸变校正方法,可用于常见的深孔类零部件内表面的采集图像的几何畸变的校正,其计算简单、精度高、采用非接触式扫描且适用范围广。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 结构 深孔内 表面 图像 几何 畸变 校正 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于多线结构光的深孔内表面图像几何畸变校正方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤一,建立深孔内表面模型和与之对应的深孔内表面展开模型;步骤二,获取针对深孔内表面模型的曲面采集图像和针对深孔内表面展开模型的平面采集图像;步骤三,设计高斯结构光点阵图案;步骤四,对同一行或列的高斯点继续插值;步骤五,依托高斯结构光点阵图案扫描深孔内表面获取的曲面采集图像和平面采集图像中对应高斯结构光点之间的图像位置以及形变关系,对图像畸变进行矫正。
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