[发明专利]基于纳米线波导的点衍射干涉检测系统有效
申请号: | 201810361333.5 | 申请日: | 2018-04-20 |
公开(公告)号: | CN108801173B | 公开(公告)日: | 2020-04-28 |
发明(设计)人: | 杨甬英;白剑;李瑶;王晨;陈元恺 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B9/02 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 忻明年 |
地址: | 310027 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于纳米线波导的点衍射干涉检测系统。传统的针孔点衍射干涉系统存在针孔透射光强较弱,针孔对准误差以及入射波前像差的问题,且难以进行两干涉波前的光强调整操作。本发明解决了点衍射干涉系统中对比度可调以及难以产生大数值孔径的高精度参考波前的难题。本发明的特点在于,利用一纳米线波导将光波限制在波长尺寸孔径内出射,从而产生近乎理想的大数值孔径参考球面波,其中与之相连的单模光纤可有效滤除入射波前像差的影响。并且凭借其微小尺寸,可放置于待测球面镜球心处,实现参考波前的振幅调整以及移相操作。本发明可实现不同反射率球面镜面形的高精度通用化检测,并具有重要的工程应用价值。 | ||
搜索关键词: | 基于 纳米 波导 衍射 干涉 检测 系统 | ||
【主权项】:
1.一种基于纳米线波导的点衍射干涉检测系统,其特征在于包括线偏振激光器(S1)、二分之一波片(S2)、准直扩束系统(S3)、分光镜(S4)、可调衰减片(S5)、压电微位移器(S6)、光纤耦合器(S7)、单模光纤(S8)、波导点衍射板(S9)、显微物镜(S10)、空间滤波器(S11)、待测球面镜(S12)、反射镜(S13)、成像透镜(S14)、探测器(S15);线偏振激光器(S1)经二分之一波片(S2)调节得到线偏振光,再经准直扩束系统(S3)产生平行光,经过分光镜(S4)产生参考波(W1)和检测波(W2),参考波经可调衰减片(S5)衰减后,由光纤耦合器(S7)耦合到单模光纤(S8)中,然后传输到与单模光纤(S8)相连接的波导点衍射板(S9)中衍射产生参考球面波(W1),检测波(W2)经显微物镜(S10)会聚,在焦点处经空间滤波器(S11)滤波后,照明待测球面镜(S12),经待测球面镜(S12)和分光镜(S13)反射后,与参考波(W2)发生干涉,经成像透镜(S14)在探测器(S15)上得到干涉条纹,利用压电微位移器(S6)对光纤耦合器(S7)进行多步移相,即可实现对参考波(W1)的移相操作,进而实现待测球面镜(S12)面形的高精度测量。
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