[发明专利]用于探测器阵列法测量激光光斑的图像插值方法有效

专利信息
申请号: 201810364083.0 申请日: 2018-04-23
公开(公告)号: CN108681992B 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 富容国;杨子昊;李培源;杨恒睿;钱芸生;刘磊;邱亚峰;张俊举;张益军;常本康 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T3/40;G06T5/50
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 朱宝庆
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供了一种用于探测器阵列法测量激光光斑的图像插值方法,包括以:根据探测器探知的已有光斑的能量分布,初步确定光斑中心的位置以及水平垂直方向的尺寸;通过光斑中心的水平和垂直方向取采样点,拟合得到高斯方程,生成理想高斯分布图像;根据从原图像中获得的尺寸信息,对高斯分布图像以原图像的光斑中心为基准点,进行缩放变换,得到粗插值结果;所述原图像为已有光斑的能量分布图;对原图像靠近中心的部分采用Lanczos算法进行插值,对离光斑中心较远的区域采用双线性插值法进行插值,得到精插值结果图像;对得到的粗插值与精插值两幅图像结果进行简单加权融合,最终得到插值图像。
搜索关键词: 用于 探测器 阵列 测量 激光 光斑 图像 方法
【主权项】:
1.一种用于探测器阵列法测量激光光斑的图像插值方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,根据探测器探知的已有光斑的能量分布,初步确定光斑中心的位置以及水平垂直方向的尺寸;步骤2,通过光斑中心的水平和垂直方向取采样点,拟合得到高斯方程,生成理想高斯分布图像;步骤3,根据从原图像中获得的尺寸信息,对高斯分布图像以原图像的光斑中心为基准点,进行缩放变换,得到粗插值结果;所述原图像为已有光斑的能量分布图;步骤4,对原图像靠近中心的部分采用Lanczos算法进行插值,对离光斑中心较远的区域采用双线性插值法进行插值,得到精插值结果图像;步骤5,对步骤3及步骤4中得到的粗插值与精插值两幅图像结果进行简单加权融合,最终得到插值图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京理工大学,未经南京理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810364083.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top