[发明专利]一种大气温湿度廓线微波探测仪及其探测方法有效
申请号: | 201810367114.8 | 申请日: | 2018-04-23 |
公开(公告)号: | CN108594333B | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 王振占;李彬;陆浩 | 申请(专利权)人: | 中国科学院国家空间科学中心 |
主分类号: | G01W1/02 | 分类号: | G01W1/02;G01W1/10 |
代理公司: | 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 | 代理人: | 陈琳琳;王宇杨 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: |
一种大气温湿度廓线微波探测仪包括:电子学机箱(1)、扫描驱动机构(2)和外定标模块(3);扫描驱动机构(2)驱动电子学机箱(1)对辐射计的旋转扫描观测;外定标模块(3),包括相同结构的定标热源(301)和定标常温源(302),设置于电子学机箱(1)外部为电子学机箱(1)提供定标基准参数;电子学机箱(1)接收K和V两个波段大气的微波辐射,处理后得到辐射亮温的相关参数,结合所述的定标基准参数,计算大气温湿度辐射亮温T |
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搜索关键词: | 一种 大气 温湿度 微波 探测仪 及其 探测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种大气温湿度廓线微波探测仪,其特征在于,所述探测仪包括:电子学机箱(1)、扫描驱动机构(2)和外定标模块(3);所述扫描驱动机构(2),用于驱动电子学机箱(1)对辐射计的旋转扫描观测;所述外定标模块(3),包括相同结构的定标热源(301)和定标常温源(302),设置于电子学机箱(1)外部;用于为电子学机箱(1)提供定标源,供所述电子学机箱(1)采集定标基准参数;所述电子学机箱(1),用于接收K和V两个波段大气的微波辐射,处理后得到辐射亮温的相关参数,结合所述的定标基准参数,计算大气温湿度辐射亮温TA,反演出大气温湿度廓线。
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