[发明专利]一种大气温湿度廓线微波探测仪及其探测方法有效

专利信息
申请号: 201810367114.8 申请日: 2018-04-23
公开(公告)号: CN108594333B 公开(公告)日: 2021-05-18
发明(设计)人: 王振占;李彬;陆浩 申请(专利权)人: 中国科学院国家空间科学中心
主分类号: G01W1/02 分类号: G01W1/02;G01W1/10
代理公司: 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 代理人: 陈琳琳;王宇杨
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种大气温湿度廓线微波探测仪包括:电子学机箱(1)、扫描驱动机构(2)和外定标模块(3);扫描驱动机构(2)驱动电子学机箱(1)对辐射计的旋转扫描观测;外定标模块(3),包括相同结构的定标热源(301)和定标常温源(302),设置于电子学机箱(1)外部为电子学机箱(1)提供定标基准参数;电子学机箱(1)接收K和V两个波段大气的微波辐射,处理后得到辐射亮温的相关参数,结合所述的定标基准参数,计算大气温湿度辐射亮温TA,反演出大气温湿度廓线。基于该探测仪,本发明还提供了一种大气温湿度廓线微波探测方法。本发明的探测仪及其探测方法能够不间断对低层大气特别是边界层的温湿度廓线进行连续不间断的探测,为大气科学研究和气象预报业务提供重要的数据来源。
搜索关键词: 一种 大气 温湿度 微波 探测仪 及其 探测 方法
【主权项】:
1.一种大气温湿度廓线微波探测仪,其特征在于,所述探测仪包括:电子学机箱(1)、扫描驱动机构(2)和外定标模块(3);所述扫描驱动机构(2),用于驱动电子学机箱(1)对辐射计的旋转扫描观测;所述外定标模块(3),包括相同结构的定标热源(301)和定标常温源(302),设置于电子学机箱(1)外部;用于为电子学机箱(1)提供定标源,供所述电子学机箱(1)采集定标基准参数;所述电子学机箱(1),用于接收K和V两个波段大气的微波辐射,处理后得到辐射亮温的相关参数,结合所述的定标基准参数,计算大气温湿度辐射亮温TA,反演出大气温湿度廓线。
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