[发明专利]一种基于MEMS微镜激光测距传感器在审
| 申请号： | 201810369278.4 | 申请日： | 2018-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN108318889A | 公开（公告）日： | 2018-07-24 |
| 发明（设计）人： | 高东峰 | 申请（专利权）人： | 北京因泰立科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08;G01S7/481 |
| 代理公司： | 北京太兆天元知识产权代理有限责任公司 11108 | 代理人： | 张洪年 |
| 地址： | 100085 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于MEMS微镜激光测距传感器，包括：激光发射单元，光斑整形元件，MEMS微镜模组，发射结构件，接收镜头，接收模组，连接结构件，控制单元；其中，激光发射单元发射激光，经过整形透镜整形，通过发射结构件对MEMS微镜进行调节，使发射光斑照射到MEMS微镜中央，提高调节精度和调节效率，连接结构件、发射组件和接收镜头经过形状配合定位保证组装精度，通过控制单元进行发射、扫描和接收实现激光测距功能。 | ||
| 搜索关键词： | 发射 激光测距传感器 激光发射单元 接收镜头 连接结构 结构件 光斑 发射组件 光斑照射 激光测距 接收模组 形状配合 整形透镜 整形元件 整形 模组 激光 扫描 组装 保证 | ||
【主权项】：
1.一种基于MEMS微镜激光测距传感器，其特征在于，包括：激光发射单元，光斑整形元件，MEMS微镜模组，发射结构件，接收镜头，接收模组，连接结构件，控制单元；其中，激光发射单元发射激光，经过整形透镜整形，通过发射结构件对MEMS微镜进行调节，使发射光斑照射到MEMS微镜中央，提高调节精度和调节效率，连接结构件、发射组件和接收镜头经过形状配合定位保证组装精度，通过控制单元进行发射、扫描和接收实现激光测距功能。
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