[发明专利]一种基于结构光照明显微技术的三维轮廓测量方法在审
| 申请号： | 201810369489.8 | 申请日： | 2018-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN108332684A | 公开（公告）日： | 2018-07-27 |
| 发明（设计）人： | 文刚;梁永;李思黾;王林波;金鑫;李辉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01B11/25 |
| 代理公司： | 苏州华博知识产权代理有限公司 32232 | 代理人： | 黄丽莉 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种基于结构光照明显微技术(Structured Illumination Microscopy，SIM)的三维轮廓测量方法，其具体包括以下步骤：步骤一，利用三维面形测量方法获得被测量物体的三维面型分布点云数据；步骤二，利用结构光照明方法获得被测量物体的二维平面图像；步骤三，对步骤二获得的二维平面图像进行边缘提取处理，得到被测量物体的超分辨边缘轮廓；步骤四，将步骤一得到的三维面型分布点云数据和步骤三得到的物体的边缘轮廓进行融合，获得边缘轮廓准确的三维面型点云图像。本发明将三维面形测量方法与SIM技术相结合，可以准确获得被测物体的三维边缘信息，可有效弥补的当前3D面型测量技术的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 边缘轮廓 三维 面型 光照 二维平面图像 三维轮廓测量 三维面形测量 显微技术 测量 分布点 被测物体 边缘提取 边缘信息 点云图像 面型测量 超分辨 融合 | ||
【主权项】：
1.一种基于结构光照明显微技术的三维轮廓测量方法，其特征在于，具体包括以下步骤：步骤一，利用三维面形测量方法获得被测量物体的三维面型分布点云数据；步骤二，利用结构光照明方法获得被测量物体的二维平面图像；步骤三，对所述步骤二获得的二维平面图像进行图像处理，得到被测量物体的超分辨边缘轮廓；步骤四，将所述步骤一得到的三维面型分布点云数据和所述步骤三得到的物体的边缘轮廓进行融合，获得边缘轮廓准确的三维面型点云图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院苏州生物医学工程技术研究所，未经中国科学院苏州生物医学工程技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810369489.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种用于三维面形测量的干涉式光学探头
- 下一篇：一种编码结构光三维测量方法
