[发明专利]荧光显微镜系统的对焦方法及装置有效
| 申请号： | 201810371435.5 | 申请日： | 2018-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN108398775B | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 戴琼海;谢浩;孔令杰;范静涛 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G02B21/24 | 分类号： | G02B21/24 |
| 代理公司： | 11201 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 张润<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种荧光显微镜系统的对焦方法及装置，其中，方法包括以下步骤：对焦区域选取步骤：在轴向扫描荧光样本过程中选取多个清晰对焦的特征区域，并记录每个特征区域的清晰图像和位置；角度‑轴向位置迭代调节优化步骤：根据每对焦区域的中心坐标获取角度和轴向位置的移动量，以移动后进行图像匹配对准，并测量每对焦区域的中心坐标后再次迭代优化，以实现对焦。该方法适用于样本在调节过程中发生变化的情况，适用于宽视场荧光成像，有效提高了对焦速度和稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 对焦 对焦区域 荧光显微镜系统 特征区域 中心坐标 轴向位置 迭代调节 迭代优化 清晰图像 图像匹配 荧光成像 荧光样本 轴向扫描 宽视场 移动量 样本 对准 测量 清晰 移动 记录 优化 | ||
【主权项】：
1.一种荧光显微镜系统的对焦方法，其特征在于，包括以下步骤：/n对焦区域选取步骤：在轴向扫描荧光样本过程中选取多个清晰对焦的特征区域，并记录每个特征区域的清晰图像和位置；/n角度-轴向位置迭代调节优化步骤：根据每个对焦区域的中心坐标获取角度和轴向位置的移动量，以移动后进行图像匹配对准，并测量所述每对焦区域的中心坐标后再次迭代优化，以实现对焦。/n
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