[发明专利]基于模糊C均值聚类的电阻抗层析成像图像质量评价方法有效

专利信息
申请号: 201810372933.1 申请日: 2018-04-24
公开(公告)号: CN108717694B 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 王泽莹;岳士弘;刘笑远 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T11/00;G06K9/62
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 程毓英
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种基于模糊C均值聚类的电阻抗层析成像图像质量评价方法,包括三个部分:第一部分,快速FCM聚类划分图像像素;最终将EIT图像的像素分为三类,对应伪影类、目标类和背景类,但此时这三类数据与所属类的对应关系未知;第二部分,统计分类结果;分别计算三类像素灰度值的平均值,按照从大到小的顺序将三类数据依次标记为目标、伪影和背景;第三部分,计算评价指标:根据伪影的像素数量计算伪影占比,根据目标和背景的像素数量和离散度计算图像均匀度;根据隶属度计算两种指标的权重;将两种指标分别乘以各自的权重后相加,得到最终的图像质量评价指标λ;以上所得出的伪影占比指标R,均匀度指标E和加权相加后得到的指标λ均可用来对EIT图像的质量进行评价。
搜索关键词: 基于 模糊 均值 阻抗 层析 成像 图像 质量 评价 方法
【主权项】:
1.一种基于模糊C均值聚类的电阻抗层析成像图像质量评价方法,包括三个部分:第一部分,快速FCM聚类划分图像像素1)初始化:将得到EIT图像的像素样本投影至灰度离散集,初始化隶属度矩阵为随机数矩阵,设置类数为3;2)计算各类中心:3)计算所有像素点在每一类的隶属度,更新隶属度矩阵:4)检查收敛性:如果两次迭代之间的隶属度差<10‑5或迭代次数达到10次,则聚类过程结束,否则重复2)和3);5)比较各像素在各类的隶属度值,将像素划分至其最大隶属度所属的类,根据以上方法,最终将EIT图像的像素分为三类,对应伪影类、目标类和背景类,但此时这三类数据与所属类的对应关系未知;第二部分,统计分类结果1)分别计算三类像素灰度值的平均值,按照从大到小的顺序将三类数据依次标记为目标、伪影和背景;2)统计三类数据的像素数量,并计算三类数据的离散程度;第三部分,计算评价指标1)计算伪影占比指标:第三部分,计算图像质量评价指标:根据伪影的像素数量计算伪影占比,根据目标和背景的像素数量和离散度计算图像均匀度;R表示伪影占比指标,N表示像素总数量,n2是伪影类像素的数量;2)计算图像均匀度指标:E=1‑(G1·(n1/N)+G3·(n3/N))E表示图像均匀度指标,G1和G3分别表示目标和背景的离散度,n1和n3分别表示目标和背景的像素数量;3)根据隶属度计算两种指标的权重;ωR表示伪影占比指标的权重,ωE表示图像均匀度指标的权重,uk1,uk2,uk3分别代表目标、伪影和背景中第k像素在对应类的隶属度;4)计算图像质量评价指标:将两种指标分别乘以各自的权重后相加,得到最终的图像质量评价指标λ;λ=ωR·R+ωE·E;以上所得出的伪影占比指标R,均匀度指标E和加权相加后得到的指标λ均可用来对EIT图像的质量进行评价。
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